镀层测厚仪文件教学.pptVIP

X-射线镀层测厚及ROHS筛查;内容;一、测厚仪简介;荧光分析的样品有效厚度一般为≤0.1mm。 （金属≤0.1ｍｍ；树脂≤3ｍｍ） ▲有效厚度并非初级线束穿透的深度，而是由分析线能够射出的深度决定的！ ;1、X射线产生 X射线波长略大于0.5纳米的被称作软X射线。波长短于0.1纳米的叫做硬X射线。 产生X射线的最简单方法是用加速 后的电子撞击金属靶。撞击过程中，电子突然减速，其损失的动能（其中的1％）会以光子形式放出，形成 X光光谱的连续部分，称之为制动辐射。通过加大加速电压，电子携带的能量增大，则有可能将金属原子的内层电子撞出。于是内层形成空穴，外层电子跃迁回内层填补空穴，同时放出波长在0.1纳米左右的光子。由于外层电子跃迁放出的能量是量子化的，所以放出的光子的波长也集中在某些部分，形成了X光谱中的特征线，此称为特性辐射。 ;二、 X荧光测厚原理;测厚仪基本构造 ;金属镀层分析(FP法);金属镀层分析(FP法);ROHS限制的六种有害物质的危害;ROHS有害元素筛查;ROHS检测试验方法;检出限;ROHS检测方法开发（定标）;Pb、Cd的定标曲线;ROHS豁免(铅）;需开发方法的检测需求;镀液分析：对含有金属元素的镀液测量浓度。 采用定标样法，建立定标曲线，可以自己配。 镀液样品杯 ，方便。;四、送样要求;理论密度;