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* 6.计算各组中心值bi、频数fi和频率pi bi=(第i组下限值+第i组上限值)/2,频数fi就是n个数据落入第i组的数据个数,而频率pi=fi/n(见表14-3)。 直方图事例 * 7.绘制直方图图5-1频数(频率)直方图 以频数(或频率)为纵坐标,数据观测值为横坐标,以组距为底边,数据观测值落入各组的频数fi(或频率pi)为高,画出一系列矩形,这样就得到图形为频数(或频率)直方图,简称为直方图,见图5-1。 图5-1频数(频率)直方图 直方图事例 * 直方图常见形态与判定 形 态 说 明 可 能 原 因 正常型 属于正态分布 过程正常 缺齿型 非正态分布 测量仪器精度不足 次数分配之分组数太多 可能有多种不同群体混入 有假数据 测定值有偏差 离岛型 非正态分布 数据输入过错 混入其它小量群体 有特殊原因存在 * 偏峰型 峭壁型 非正态分布 规格偏近于零时 作业员作业特殊习性 假数据 已全检筛选过再量 高原型 非正态分布 假数据 多个群体混入 双峰型 非正态分布 有两种不同群体混入 过程于中途有大调整 不规则型 非正态分布 假数据 数据太少或太多 过程实在太差 直方图常见形态与判定 * 直方图与过程能力 过程能力刚好 过程能力过好 目标偏右过程能力 目标偏左过程能力 分散度过大的过程能力 一般所用之直方图计算过程能力公式 Cp=T/6σ K=︱M-μ︱ /﹙T/2﹚ Cpk=﹙1-K﹚×Cp N x S n i i ? = - = = 1 2 ) ( m s n-1 x n i i ? = - 1 2 ) ( x s = S ? μ M LSL USL * 测知过程能力 计算产品不良率 调查是否有异质群体混入 测知有无假数据,了解分配形态 藉以订定规格界限—平均数加减四个标准差为规格上下限 设计管制界限可否应用于管制界限 直方图的应用 * 过程能力指数 * * 过程能力指数 过程能力指数(Process Capability Index)用于反映过程处于正常状态时,即人员、机器、原材料、工艺方法、测量和环境(5M1E)充分标准化并处于稳定状态时,所表现出的保证产品质量的能力。过程能力指数也称为工序能力指数或工艺能力指数。 对于任何生产过程,产品质量总是分散地存在着。若过程能力越高,则产品质量特性值的分散就会越小;若过程能力越低,则产品质量特性值的分散就会越大。那么,可用6σ(即μ±3σ)来描述生产过程所造成的总分散。即过程能力=6σ。 * 过程能力是表示生产过程客观存在着分散的一个参数。但是这个参数能否满足产品的技术规格要求,仅从它本身还难以看出。因此,还需要另一个参数来反映工序能力满足产品技术要求(公差、规格等质量标准)的程度。这个参数就叫做工序能力指数。它是技术规格要求和工序能力的比值,即 过程能力指数=技术规格要求/过程能力 (5.3) 当分布中心与公差中心重合时,过程能力指数记为Cp。当分布中心与公差中心有偏离时,过程能力指数记为Cpk。过程的质量水平按Cp值可划分为五个等级:Cp1.67,特级,能力过高;1.67≥Cp1.33,一级,能力充分;1.33≥Cp1.0,二级,能力尚可;1.0≥Cp0.67, 三级,能力不足;0.67≥Cp ,四级,能力严重不足。 * 过程能力计算方法 过程能力指数的计算可分为四种情形: (1)过程无偏情形 设样本的质量特性值X~ N(μ,σ2)。又设X的规格要求为(LSL,USL),则规格中心值M=(USL+LSL)/2,T=USL-LSL为公差。当μ=M 时,过程无偏,此时过程能力指数按下式计算: (5.4) * (2)过程有偏情形 当μ≠M 时,则称此过程有偏。此时,计算修正后的过程能力指数: (5.5) (5.6) k称为偏移系数。 μ M LSL USL * (3)只有单侧上规则限US时,XUSL产品合格情形 (5.7) * (4)只有单侧下规则限LSL时,XLSL产品合格情形 (5.8) * 过程能力指数与过程不合格品率p之间的关系 Cp与p的关系 (5.9) Cpk与p的关系 (5.10) Cp(u)与p的关系 (5.11) Cp(l)与p的关系 (5.12) 以上四式中,Φ值可根据正态分布函数表查出。例如,Φ(4.17)=0.999

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