第三章 统计过程控制(SPC)与控制图【质量精品】.ppt

均值图的检定能力（ σ变μ不变） 若μ值一定，而σ变化，由σ偏移到σ 1＝K1 σ，则偏移后一个样本未检出此偏移的β风险为： β ＝ ф（3/K1 ）- ф（-3/K1 ） 检定功效为：1- β 均值标准差控制图 如标准差σ已知，s图的控制界线： UCLs=B6 σ CLs=c4 σ LCLs=B5 σ 如标准差σ未知，s图的控制界线： － UCLs=B4s － CLs=s － LCLs=B3 s 中位数－极差控制图 P112 单值－移动极差控制图 Rsi＝|Xi－Xi+1| 已知σ 未知σ P（不合格品率）控制图 不合格品数D服从二项分布，均值为nP，方差为nP(1-P) 样本不合格品率p＝D/n，均值和方差分别为P，P(1-P)/n P已知 P未知 样本平均不合格品率 P控制图讨论 样本量n的确定 要求下控制界线为正 点子超出下控制界线的情形 各组样本的样本量不等的p图，点子距离中心线的真正距离？ 样本量n的确定 1/Pn5/P 要求下控制界线0 LCL=p-3*SQRT(p(1-p)/N)0 N9(1-P)/p P图上点子超出下控制界线 好现象，如果没有以下几种情况 －质量检验人员缺乏经验而漏检 －检验仪表有问题 数据不真实 点子距离中心线的真正距离 设过程P＝0.2。Pi＝0.24，ni＝250；pi+1＝0.28，ni+1＝50。 np(（不合格品数）控制图 不合格品数D服从二项分布，均值为nP，方差为nP(1-P)。若P已知： 若P未知： 其他控制图 c（不合格数）控制图 u（单位不合格数）控制图 通用控制图——标准变换与通用图 3 σ界限的一般公式为 UCL= μ＋ 3 σ CL = μ LCL= μ- 3 σ 标准变换 通用控制图——直接打点 K=3 K=－1 K=0 K=2 K=1 K=－2 K=－3 I III IV V VII VI VIII II 标杆线 现场标杆数据＝ μ＋ K σ 过程能力与过程能力指数 加工质量满足技术标准的能力 生产能力指加工数量方面的能力 过程能力可表示为6 σ 无偏移双侧规范情况：过程能力指数＝T/ 6 σ T——技术规范的规范幅度 无偏移双侧规范情况 Cp＝T/(6 σ) TU TL Cp1 TL TU Cp=1 TL TU Cp1 无偏移单侧规范情况 只有上限要求，无下限要求 CPU＝（TU－ μ）/3 σ 只有下限要求，无上限要求 CPU＝（μ－ TL ）/3 σ 过程能力指数CP值的评价参考 Cp值范围 级别 过程能力评价参考 1.67 I 过程能力过高(应视具体情况而定) [1.33,1.67) II 过程能力充分,表示技术管理能力已很好,应继续维持 [1.0, 1.33) III 过程能力较差,表示技术管理能力较勉强,应设法提高为II级 [0.67, 1.0) IV 过程能力不足,表示技术管理能力已很差,应采取措施立即改善 0.67 V 过程能力严重不足,表示应采取紧急措施和全面检查,必要时可停工整顿 有偏移情形.过程能力指数 M μ TU TL PU ε T/2 CP与不合格品率p的关系 M μ TU TL PU PL 某零件加工尺寸为 ，加工100件的一批零件后，得到 ，求不合格品率p和合格品率q CPK与不合格品率p的关系（上） M μ TU TL PU ε T/2 分布中心向 规范上限偏移 CPK与不合格品率p的关系（下） TU M μ T/2 TL PL ε 分布中心向规范下限偏移： 第三章 统计过程控制（SPC）与控制图 本章要点 什么是SPC SPC的监控工具——控制图 控制图的原理 控制图的判稳与判异准则 休哈特控制图与通用控制图 过程能力与过程能力指数 SPC 什么是SPC（Statistical Process Control） 用统计技术对过程的各个阶段进行监控，达到保证与改进质量的目的。 SPC发展简史 SPC SPD（Statistical Process Diagnosis） SPA（ Statistical Process Adjustment） 推行ISO9000与SPC和SPD的关系 控制图 对质量特性值进行测定记录评估和监察过程是否处于控制状态的一种用统计方法设计的图 控制图原理的第一种解释：假设检验 在控制