TD-LTE杂散及二次谐波干扰测试方法TD-LTE杂散及二次谐波干扰测试方法.pdf

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TD-LTE杂散及二次谐波干扰测试方法TD-LTE杂散及二次谐波干扰测试方法

故障案例 LTE 干扰小区处理案例 TD-LTE无线干扰 公司 东莞 专业 无线 设备类型 检测仪 东莞纳萨斯 设备厂家 通信科技有 设备型号 DONA 软件版本 DONA V1.1 限公司 编制时间 2014-7-8 作者 李会宇 作者电话 关键字 LTE 上行干扰 带外杂散干扰 二次谐波干扰 二阶互调 1. 故障现象 东莞向阳路F-HLH 站点目前使用F 频段;根据华为后台干扰指标统计,发现该LTE 站点1 小区存 在严重高干扰,干扰底噪大约在-80DBm 左右,对业务性能造成了很大的影响,急需定位解决。 2. 理论分析 理论上在TD-LTE 网间干扰是比较常见的,其中DCS1800 的杂散及GSM900 的二次谐波比例及影响 较大,依据后台RB 观测可能属于这两种干扰类型的混合干扰: 杂散干扰是由于现网部分DCS1800 基站在F 频段内的杂散指标较差,将对F 频段TD-LTE 基站产 生的带外杂散信号较强,导致被干扰系统底噪抬升,上行性能下降的干扰。 GSM900 二次谐波干扰是由于由于发射机有源器件和无源器件的非线性,在其发射频率的整数倍频 率上将产生较强的谐波产物。当这些谐波产物正好落于受害系统接收机频段内,将导致受害接收机灵 敏度损失。 3. 干扰源分析定位 测试方案1 :普通频谱仪表常规流程测试 A.在被干扰小区天线平台 进行 360 度空口扫频,检测得到强信号的20MHz 方波信号,干扰信号 淹没在下行基站信号里面,无法识别的检测到干扰源频谱波形特征,也无法定位。 图1 空口普通频谱测试截图(1880MHz-1900MHz) B.TD-LTE RRU 天馈线口端测试: 1)关闭TD-SCDAM 和TD-LTE,保持GSM900、DCS1800 设备正常运作; 2)该站点是多频合路共用天线系统。其中GSM900 一路、DCS1800、TD-SCDAM 及TD-LTE 合路共用 一路。在机房断开TD-LTE 设备RRU 连接天线的接口,将频谱仪连接至天线端(如下图),进行频谱 多频 合路 天线 合路器 GSM900 DCS1800 TD-SCDMA TD-LTE 主设备 主设备 主设备 主设备 频谱仪 测试: 3)TD-LTE 制式,上下行信号在同一频段内传输,扫频时关闭了东莞向阳路F-HLH_1 小区保持东 莞向阳路F-HLH_2 小区开启;但是还收到东莞向阳路F-HLH_2 小区及周边LTE 信号,影响判断, 仍然未检测到干扰源频谱,难以定位干扰源。 3)由于东莞TD_LTE 已经商用,按照信号强度要将附近3 公里范围内TD_LTE 基站同时进行 关闭才可能不受下行信号影响。但同时关闭周边10 多个TD_LTE 站点测试必然导致4G 用户 的通信影响,甚至投诉。故尝试采用东莞纳萨斯通信科技有限公司提供的DONA TD-LTE 无线 信号干扰检测仪方案。 3.1.测试方案2 DONA TD-LTE 无线干扰检测仪 解决方案 东莞纳萨斯通信科技有限公司提供的DONA TD-LTE 无线干扰检测仪,除了具备常规频谱仪的 所有功能外,还具备了无需关闭被干

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