中科院大学 发光技术课程讲座课件.pptVIP

激发态消布局过程与自然线宽 激发态消布局过程与自然线宽 激发态消布局过程与自然线宽 失相过程 设系统中有n个谐振子，它们各自独立地发射. 在t=0时，这些谐振子具有相同的相位. 每个谐振子的相位随机变化，相邻两次变化间的时间按指数分布，均值为T2. 每次相位的变化值在[-p，p]内均匀分布，且与变化前的值无关. 我们模拟这样一个系统总极化强度的平方随时间的变化，即求 设原子自由辐射频率为w0, 辐射相位受到扰动产生随机变化, 变化值在[-p，p]内均匀分布，与其初始相位无关, 相邻两次变化的时间间隔t(0t∞)以 分布. 记上一次变化的时间为0, 在(0,t)内的电场不受扰动, Et(t)=E0exp[i(w0t+j(0)] (0tt) 它的Fourier变换为 考虑t的分布, 整个系统辐射的强度为 归一化的线形函数为 峰值位于w0, D=2/T 2的Lorentz函数, 以频率表示 G2=D/(2p)=1/(pT 2) 只改变辐射相位的纯失相过程也导致频谱宽化, 这种线宽也是均匀线宽. 动态微扰也可能引起跃迁频率的变化, 产生光谱扩散, 使谱线随时间变宽. 一个这样的例子是固体中晶格离子(B)核自旋跳变(flip)引起掺杂离子(A)位置上的磁场起伏, 改变了它自旋能级的劈裂间距, 从而使跃迁频率发生变化, 谱线宽化. 动态非均匀线宽(hete