超声检测方法分类与特点教程.pptVIP

* * b.交叉式 两个探头轴线交叉，交叉点为要探测的部位，如图b)所示。此种探伤方法可用来发现与探测面垂直的片状缺陷，在焊缝探伤中，常用来发现横向缺陷。 * * c. V型串列式 两探头相对放置在同一面上，一个探头发射的声波被缺陷反射，反射的回波刚好落在另一个探头的入射点上，如图c)所示。此种探伤方法主要用来发现与探测面平行的片状缺陷。 * * d. K型串列式 两探头以相同的方向分别放置于试件的上下表面上。一个探头发射的声波被缺陷反射，反射的回波进入另一个探头，如图d)所示。此种探伤方法主要用来发现与探测面垂直的片状缺陷。 * * e. 串列式 两探头一前一后，以相同方向放置在同一表面上，一个探头发射的声波被缺陷反射的回波，经底面反射进入另一个探头，如图e)所示。此种探伤方法用来发现与探测面垂直的片状缺陷(如电渣焊厚焊缝的破口边沿未熔合)。两个探头在一个表面上移动，操作比较方便，是一种常用的探测方法。 5.4.3 多探头法 使用两个以上的探头组合在一起进行检测的方法，称为多探头法。 多探头法的应用，主要是通过增加声束来提高检测速度或发现各种取向的缺陷。 通常与多通道仪器和自动扫查装置配合 5.5 按探头接触方式分类的检测方法 接触法、液浸法和电磁耦合法。 5.5.1 接触法和液浸法 直接接触法 探头与试件探测面之间，涂有很薄的耦合剂层，因此可以看作为两者直接