液晶盒厚度及扭转角量测系统与试验步骤.PDFVIP

第四章 液晶盒厚度及扭轉角量測系統與實驗步驟 4.1 、入射面液晶指向矢角為已知 4.1.1 、旋轉液晶盒及檢光片法 一 、量測系統 量測系統的設計主要在於同時量測液晶扭轉角度與厚度 。圖 4.1 為量測系統的示意圖 ，包含光學 、電子 、軟體設計以及操作三部 分 ，茲說明如下: 圖 4.1 、液晶扭轉角與厚度量測裝置圖一 a.光學系統 包含 (1)光源(He-Ne Laser波長為 632.8 nm)﹔(2)偏光片 5 5 (Polarizer 10:1)﹔(3)檢光片(Analyzer 10:1)﹔(4)步進馬達 (Stepping motor每400步為 1:與每250步為 1)﹔(5)旋轉台﹔ 35 (6)二維步進馬達控制器(Stage controller)；(7)偵測器等 。 b.電子系統 個人電腦為輸入與輸出訊號的控制台 ，經由 RS232 序列通訊介面 ， 傳送角度資料給二維步進馬達控制器以驅動步進馬達控制旋轉台 旋轉 ，同時經由 NI-DAQ 介面卡讀取光偵測器訊號 。 c.操作軟體 以 LabVIEW寫的程式控制步進馬達以及擷取光偵測器訊號﹔同時 待實驗測量結束後 ，儲存量測資料以及將量測資料作繪圖與曲線 模擬的工作 ，找到穿透率極小時所對應的角度位置 。實驗中控制 液晶盒旋轉的馬達為行進 400 步旋轉 1 ，因此實驗時最小旋轉角 度可取至 0.0025 ﹔而控制檢光片旋轉的馬達為行進 250 步旋轉 1 ，因此實驗時最小旋轉角度可取至 0.004 。 二 、量測步驟: 1. 對光 ：放置液晶盒時 ，光軸的調整須格外注意是否通過旋轉台的 軸心 ，可藉由一反射鏡的反射光點位置來校正 ，應避免旋轉液晶盒 的過程中光點有偏移 。 2. 旋轉液晶盒 ：在量測系統中 ，偏光片為參考軸 ，因此偏光片是固 定不動 ，旋轉液晶盒即可改變入射面液晶指向與偏光片的夾角 ；利 用程式記錄每一個角度所對應的反射光強度 。由於 （3.5）式為一 36 週期為 π/2 的弦波函數 ，因此液晶盒只需由零轉至 90 度即可 。 3. 旋轉檢光片 ：固定偏光片 ，並將液晶盒歸零 ，然後旋轉檢光片 。 在 （3.7）式中 ，反射率為一週期為 π的弦波函數 ，因此檢光片只 需由零轉至 180 度即可 ，並記錄每一角度的反射光強度 。 4. 數據處理 ：將步驟 2.及 3.中所量測到的數據利用多項式擬合，並 找出擬合後曲線的最低點代入式 （3.6 ）及 （3.8 ）式求解 。 4.1.2 、旋轉檢光片法 由於利用此方法時 ，只需旋轉檢光片即可 ，因此裝置及操作步驟 均可較 4.1.1 節所提之方法簡化 ，只需固定液晶盒而不用旋轉 ，其餘 的系統均和 4.1.1 節相同 ，因此不在贅述 。 37 4.2 、入射面液晶指向矢角為未知 4.2.1 、加電壓及旋轉液晶盒 一 、量測系統 ： 圖 4.2 為量測系統的示意圖 ，包含光學 、電子 、軟體設計以及操 作三部分 ，茲說明如下: 圖 4.2 、液晶盒厚度及扭轉角量測裝置圖二 a.光學系統 和 4.1 節所使用的光學系統相同 。 b.電子系統 和 4.1 節所使用的電子系統類似 ，但多了一個信號產生器 (Function Generator)。 c.操作軟體 使用和 4.1 節相同的操作軟體 。 38 二 、量測步驟 ： a.對光 ：放置液晶盒時 ，光軸的調整須格外注意是否通過旋轉台的 軸心 ，可藉由一反射鏡的反射光點位置來校正 ，應避免旋轉液晶 盒的過程中光點有偏移 。 b.加電壓及旋轉液晶盒 ：先對液晶盒施加一小電壓 ，並旋轉液晶盒 ， 利用程式記錄每一個角度所對應的反射光強度 。液晶盒由零度轉 至 45 度即可 。 c.增加電壓 ：每 0.1 伏增加