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2018-04-27 发布于河南
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8材料分析方法介绍

材料分析方法介绍山东理工大学谷万里 * * 材料科学的发展不仅表现在材料本身，还表现在材料分析方法的不断进步。自十九实际金相显微镜诞生，人类首次观察到材料的内部组织结构以来，对材料分析方法的研究一刻也没有停留过，正是不断出现的新的分析方法伴随着材料科学走到了今天的辉煌，以下将对材料现代分析方法进行简单的介绍。 1、分析方法的三大件扫描电子显微镜（SEM） X射线衍射仪（XRD）透射电子显微镜（TEM）扫描电镜用于材料的表面形貌与成分研究，既可以用于粉末形貌研究，也可以用于块体材料的表面研究和拉伸试样的断口研究。 X射线衍射仪主要用于材料的物相分析，也可用于材料中应力的测定及织构测定，可以用粉末试样也可用块体试样，今年来发展的高温原位X射线技术还可用于液态成分的测定。 Al/50vol%Ti3SiC2 mixed powder hot pressed at 600oC, 630oC and 650oC for 30 minutes Solubility of Si in Al as a function of lattice spacing of Al (H. J. Axon ) 所需的理论值为： Si(331)=76.350 Si(422)=88.023 76.336α+β=76.350 87.996α+β=88.023 α=1.0011 β=-0.0711 Al（311）为： 78.174α+β=78.189 a=0.40501(nm) Detected lattice spacing and atomic percent of Si in Al Al 78.211 0.40501 0 0 600℃,30min 78.210 0.40501 0 0 600℃,300min 78.227 0.40494 -0.00007 0.35 650℃,30min 78.262 0.40479 -0.00022 1.1* Sample corrected Al（311） a(nm) Δa(nm) At.%Si * extrapolated result