半导体器件物理chapt 4-1.pptVIP

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半导体器件物理chapt 4-1

§4.1 晶体管的基本结构和杂质分布 当uGS>0V时→纵向电场 →将靠近栅极下方的空穴向下排斥→耗尽层。 ②转移特性曲线: iD=f(uGS)?uDS=const 2.N沟道耗尽型MOSFET 特点: 当uGS=0时,就有沟道,加入uDS,就有iD。 当uGS>0时,沟道增宽,iD进一步增加。 当uGS<0时,沟道变窄,iD减小。 半导体器件物理 第四章 MOS场效应晶体管 根据工作原理,晶体管可以分为两大类:一类就是第3章中讨论过的双极型晶体管,另一类就是本章将讨论的MOS场效应晶体管。在双极型晶体管中,参加工作的不仅有少数载流子,也有多数载流子,故统称为双极型晶体管。 场效应管(Field Effect Transistor简称FET)是一种电压控制器件(uGS~ iD) ,工作时,只有一种载流子参与导电,因此它是单极型器件。 FET因其制造工艺简单,功耗小,温度特性好,输入电阻极高等优点,得到了广泛应用。 FET分类: 绝缘栅场效应管 结型场效应管 耗尽型 P沟道 N沟道 P沟道 N沟道 P沟道 增强型 N沟道 一. 绝缘栅场效应管 绝缘栅型场效应管 ( Metal Oxide Semiconductor FET),简称MOSFET。分为: 增强型 ? N沟道、P沟道 耗尽型 ? N沟道、P沟道 1.N沟道增强型MOS管 (1)结构 4个电极:漏极D, 源极S,栅极G和 衬底B。 符号: 晶体管MOS场效应晶体管管芯的基本结构参数有沟道长度(即漏和源两个冶金结之间的距离 L)、沟道宽度W、栅绝缘层厚度tox、漏区和源区的扩散结深Xj、衬底掺杂浓度NA等。从版 图结构看,实际的MOS场效应晶体管图形结构多种多样,它们有环形结构、条状结构和梳 状结构等。 (2)工作原理 当uGS=0V时,漏源之间相当两个背靠背的 二极管,在d、s之间加上电压也不会形成电流,即管子截止。 再增加uGS→纵向电场↑ →将P区少子电子聚集到 P区表面→形成导电沟道,如果此时加有漏源电压,就可以形成漏极电流id。 ①栅源电压uGS的控制作用 定义: 开启电压( UT)——刚刚产生沟道所需的 栅源电压UGS。 N沟道增强型MOS管的基本特性: uGS < UT,管子截止, uGS >UT,管子导通。 uGS 越大,沟道越宽,在相同的漏源电压uDS作用下,漏极电流ID越大。 输出特性 可根据输出特性曲线作出移特性曲线。 例:作uDS=10V的一条转移特性曲线: UT 一个重要参数——跨导gm: gm=?iD/?uGS? uDS=const (单位mS) gm的大小反映了栅源电压对漏极电流的控制作用。 在转移特性曲线上, gm为的曲线的斜率。 在输出特性曲线上也可求出gm。 在栅极下方的SiO2层中掺入了大量的金属正离子。所以当uGS=0时,这些正离子已经感应出反型层,形成了沟道。 定义: 夹断电压( UP)——沟道刚刚消失所需的栅源电压uGS。 半导体器件物理 第四章 MOS场效应晶体管

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