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大规模集成电路第0讲
中科院研究生院课程：VLSI测试与可测试性设计
第0讲课程简介
李晓维
中科院计算技术研究所
Email: lxw@
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VLSI测试与可测试性设计 1 课程导论
基本目的
1. 使学生掌握VLSI 系统测试和可测性设计的基本原
理和主要方法；
2. 使学生把握VLSI 系统测试和可测性设计的学科前
沿方向；
3. 使学生对EDA系统中有关测试和可测性设计工具有
初步认识和实践体会；
4. 使学生能够在与VLSI 测试相关的学术研究和应用
开发中直接发挥作用。
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VLSI测试与可测试性设计 2 课程导论
参考书
1. L.-T. Wang, C-W Wu, X-Q Wen,
VLSI TEST PRINCIPLES AND ARCHITECTURES
Design for Testability
Elsevier Morgan Kaufmann Publishers, ©2006.
2. M.L.Bushnell and V.D.Agrawal,
ESSENTIAL OF ELECTRONIC TESTING
for Digital Memory and Mixed-Signal VLSI Circuits,
Kluwer Academic Publishers, ©2000.
3. M.Abramovici, M.A.Breuer, A.D.Friedman,
Digital Systems Testing and Testable Design,
Computer Science Press, ©1995.
3
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VLSI测试与可测试性设计 3 课程导论
主要文献出处
国际学术刊物（/ ）
[1] IEEE Transactions on Computers
[2] IEEE Transactions of Computer Aided Design of Integrated
Circuits and Systems
[3] IEEE Transactions on VLSI Systems
[4] IEEE Design and Test of Computers
[5] Journal of Electronic Testing: Theory and Applicatio
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