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图像沉降法测量颗粒粒度的研究 伽一褂 第17卷第4期 1996年11月 化工冶金 EngineeringChemistryamp;Metallurgy ⑦ ,Ⅻl7No4 Nov.19.6 图像沉降法测量颗粒粒度的研究 马兴华完明睿 (中国科学院化工冶金研究所,北京100080)他Dl) 要本文提出了图像沉降法,用于快速测量颗粒的粒度分布.该法采用具有2048十元素 的图像传感器.治着祝降高度测量精光强度,消光圈像可显示于屏幕上,目而可I;l观察和监视颗 粒的沉降过程由i蠢体(例如水】表面至任一蛤定点之间的高度可用图像技术精确地测量,不必 1前言 颗粒粒度和粒度分布的测量在化工,粉末冶金,陶瓷,材料和粉碎等许多领域中有着广泛的 应用背景.本世纪以来,人们发展了多种粒度测量方法,如库尔特法,光透过法及x射线小角衍 射法等.其中光透过法仍然是一种应用广泛的粒度测量法. 所谓光透过法是测量悬浮液中随时间变化的颗粒浓度,并根据沉降理论计算颗粒粒度分布的 一 种方法.沉降过程可在重力场中进行,也可在离心力场中进行,以便测量更细小的颗粒.所采 用的光源可为白炽光,激光或x射线.该法经过许多科学工作者的努力I14],已日蒜完善.1986 年Staudiger及其合作者_引采用3个光电传感器,以便缩短测量时间,但仍需专用的装置测量 沉降高度. 本文提出采用具有2048个元素的图像传感器测量光密度随时问变化的方法,称为图像沉降 法(Image—SedimentationTechniqLie,简称IST法).可使测量时间进一步缩短,不仅能在屏幕上 显示颗粒沉降过程中光密度的动态变化,且可用图像技术直接测量沉降高度,使设各硬件简化. 2IST法的原理和硬件 如图l所示,该装置由点光源,狭缝,光学玻璃透镜,沉降池,图像传感器,A/D图像板 和486微机组成.利用沉降图像法已开发出粒度仪一Sedimage1000. 由点光源产生的可见光经一组透镜后成为平行光,当平行光通过一只盛有悬浮液的光学玻璃 沉降池以后,其消光强度可由图像传感器接收,再经A/D图像系统即可产生数字化的光强图像,如 图2所示.图中的消光图像的灰度值简称光强图像,表示了某一时刻光强沿沉降高度的变化.沉 降过程开始后,太颗粒沉降速度快,小颗粒沉降速度慢,所以悬浮液中颗粒的浓度为上稀下浓,通 过悬浮液后的光强则上强下弱.所谓图像是指具有灰度值的许多点的集合,这里用到一维图像. t商军参加了研究工作 本文于1995年12月29日收到.1996年6月14日收到悔改稿 4期图像沉降法测量颗粒粒度的研究321 图1图像沉降仪1000及其操作原理 Fig.1Sedimage1000andprinc|pleofoperation 参见图2,光强图像可分为3个区:R, 和S区.R为参考区,这里的平行光从 悬浮液上方通过沉降槽,由于光线不受颗粒阻 挡,所以光强最强,且光密度数值稳定.在R 区之下的区域称为M区,或弯液面区.由于悬 浮介质(例如水)的表面张力作用.在液体表面 形成弯液面.平行光通过弯液面时发生光的散 射,到达图像传感器的光线较弱.在区以下 的区域称为沉降区,或S区,其范围在悬浮液 弯液面的最低点至图像传感器可测的最低点之 间. 图2显示了一组光强随时间变化的图像. 沉降过程刚开始时(仁0),悬浮液中颗粒经搅拌 后浓度均匀,其光强图像沿高度为一直线,如图 2曲线1所示.这时颗粒浓度较高,所以在S 区的消光强度最小.选择适当的颗粒浓度,可 . l^ l UII时●晴I 图2光强图像随时间的顺序变化 Fig.2Sequentialchangeofhtimages withtlDQe 使该曲线在s区和区之间有一转变点k1,此点可作为液面位置的标记.在沉降区取一小区 域,若进入此区域的颗粒数与离开此区域的颗粒数相等,则该区域的颗粒浓度和消光强度都不发 生变化沉降开始后,在S区的多数区域存在着这种动态平衡,但是,在表面处这种平衡是不存 在的,因为没有颗粒从表面上部进入液体.当大颗粒由表面沉降到较低位置时,表面处的颗粒浓 度减小,消光强度增加,在消光曲线上会出现一个明显的峰,如图2曲线2所示,记为k2. 随着沉降过程的进行,曲线3的光强虽大值接近一稳定值L,对应于光强图像上的k.点. 这时仅有少量较大的颗粒全部沉降并离开s区,在最大沉降高度^处消光强度仅有少许增加. 曲线45,6表示沉降继续进行的光强变化.在k点以下逐渐出现光强不再增加的小区域, 提示这一区域中的颗粒已基本沉降完毕.曲线7表示沉降完成时的光强图像,其值沿沉降高度已 无变化. 尽管消光强度取决于颗粒浓度,颗粒的光学性质和通过悬浮液的光程,只要在沉降高度处测 量浓度随时间的变化就足以计算出颗粒的粒度分布删. 对于一次测量,图像技术可以给出大量