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电子设计报告 半导体三极管参数测量仪设计 小组成员 院系名称 专业名称 班 级 二○一四年 7 月 30 日 半导体三极管参数测量仪设计 内容提要： 本次设计的是一个基于TMS320F28335(DSP核心处理芯片)的半导体三极管参数测量仪。系统以TMS320F28335为核心控制芯片，该系统拥有三极管管脚插错，损坏指示报警的功能，同时能够较准确的测量小功率晶体管的交流和直流放大倍数，可以在液晶上描出半导体三极管在共射极接法时的输入和输出特性曲线。 在系统的设计中，共设计了控制电路、测试电路以及显示电路三大模块。通过DSP控制DAC0832进行DA转换，再通过后续电路实现数控直流电压源和电流源的设计以对晶体管的集电极和基极提供适当的控制电压和控制电流；然后分别通过DSP控制A/D转换器分别对基极电压、基极电流、集电极电压、集电极电流进行采样处理，再将采样得到的数据通过DSP中的程序处理后通过液晶显示三极管的各项参数和描出输入输出特性曲线，具有较大的实际意义。 关键词：TMS320F28335 三极管 控制电路 特性曲线 A/D转换目 录 1 引言 2 2 系统设计方案及工作原理 2 2.1总体方案设计与论证 2 2.2系统工作原理 2 2.2.1系统总体框图 2 2.2.2晶体管类型判断原理 3 2.2.3输入输出特性曲线 3 2.2.4放大倍数的计算 4 3 硬件电路设计 4 3.1取样电路设计 4 3.1.1集电极取样电路设计 5 3.1.2基极取样电路 6 3.2控制电路设计 7 3.2.1恒流源设计 7 3.2.2数控直流电压源设计 8 3.3切换电路设计 8 3.4基准电压源电路设计 8 3.5D/A转换电路设计 9 4软件设计 9 5 系统调试及数据分析 10 5.1测试仪器 10 5.2系统调试 10 5.2.1控制电路调试 10 5.2.2测试电路调试 10 5.3误差分析 11 6参考文献 11 1 引言 在现代的电子线路的设计中，三极管的应用十分广泛，在三极管的应用中，我们又经常需要了解三极管的各项特性参数。而三极管也有电流放大系数、反向击穿电压、反向饱和电流、输入输出特性曲线、延迟时间、开启时间等各项特性参数。所以拥有一个三极管参数测量仪对我们以后的电子设计具有较大的实际意义。 在传统的测试仪中，基本上只能测试晶体管的好坏，虽然功能较强大、操作简单、精确度高，但是体积较大、价格昂贵，不太适合我们个人使用。在学校的实验室中一般用数字万用表测量晶体管的直流放大系数，虽然价格相对便宜，但是功能单一、精确度不高。有时我们需要知道晶体管的交流放大系数和输出特性曲线，这就需要一个可以绘出三极管输出特性曲线的系统。 基于以上的原因，本次我们设计了以TMS320F28335（DSP核心处理芯片）为控制芯片的简易三极管参数测量仪，这对我们以后的电子设计中都有重要的实际意义。 2 系统设计方案及工作原理 2.1总体方案设计与论证 方案一：采用基极和集电极电阻两端直接测电压的方法。即在规定的条件下将基极和集电极的电压直接进行同相放大到一定的放大倍数后利用AD进行采样进行数据处理，其中电流转化成电压进行处理。这种方法虽然简单，但是电路比较复杂，同时也需要多个运放，精确度不高，不太容易达到题目的要求。 方案二：采用两路数据采集电路分别对基极和集电极电阻两端进行采样。基极电压通过TL084组成的同相电路进行放大后使用DSP控制A/D转换器进行采样。集电极电阻两端电压采用仪用放大器进行放大，要测量PNP管则将所采集的信号接入一个反相比例放大器后进行A/D转换。 方案三：采用差分放大的方式对基极和集电极两端电压进行采样，即将基极和集电极两端电压输入差分比例放大器后再进行同相放大，这样可以更精确的检测基极和集电极的电压，使误差更小。基极和集电极电流的测量转化成电压测量，即利用采样电阻后测量电阻两端电压，再将电阻两端电压进行放大，放大后输入A/D转换器中进行采样，采样后除以电阻阻值和放大倍数后就可以得到相应的基极和集电极电流。 综合考各种因素，我们最终选择方案三进行测量，其可以较为精确的测量三极管的各项参数，故采用方案三 2.2系统工作原理 2.2.1系统总体框图 三极管参数测量仪主要由测试模块和控制模块构成。测试模块主要完成的是对集电极电压（VCE）））、集电极电流（），通过数控电压源为集电极提供合适的集电极电压，然后再通过信号的采集与放大以及A/D转换后即可将信号送入DSP中进行处理，系统总体框图如下图1所示： 图 1系统总体原理框图 2.2.2晶体管类型判断原理 在测试之中，晶体管采用共射极接法，在三极管的基极和集电极上面加正向的电压，如果晶体管是NPN型的，那么集电极上面的偏置电阻上的是正