第二次课课件汪凯巍班.ppt

* * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * ?sp?:m?set? * ?sp?:m?set? * * * * * * * 　　热释电材料是一种具有自发极化的电介质,它的自发极化强度随温度变化,可用热释电系数p来描述,p=dP/dT（P为极化强度，T为温度）。在恒定温 度下，材料的自发极化被体内的电荷和表面吸附电荷所中和。如果把热释电材料做成表面垂直于极化方向的平行薄片，当红外辐射入射到薄片表面时，薄片因吸收辐 射而发生温度变化，引起极化强度的变化。而中和电荷由于材料的电阻率高跟不上这一变化，其结果是薄片的两表面之间出现瞬态电压。若有外电阻跨接在两表面之 间，电荷就通过外电路释放出来。电流的大小除与热释电系数成正比外，还与薄片的温度变化率成正比，可用来测量入射辐射的强弱。 * * * * * * * * * * * * 外部的：如外部建筑物影响GPS通讯、太阳黑子爆发影响短波通讯、汽车路过影响收音机 加连连看？ 2.3.2 噪声及其评价参数 * 为什么要研究噪声？ 任何虚假的和不需要的信号称为噪声。 噪声总是伴随着测量信号存在 测量过程是一个去除噪声、复原真实信号的过程。 6.1.1 噪声的分类及性质 外部干扰噪声:人为干扰噪声的和自然干扰噪声。 人为干扰：电子设备的干扰噪声。如焦距测量仪在日光灯下，人的走动对干涉仪的光程影响。 自然干扰：雷电、太阳等。如光电导盲器在太阳下 内部噪声:人为噪声和固有噪声两类。 人为噪声：如工频交流电（50Hz)、测试仪器的散热风扇引起的光路变化。 固有噪声：散粒噪声、热噪声、产生-复合噪声、1/f噪声、 温度噪声 2.3.2 噪声及其评价参数 * （1）散粒噪声（ Shot noise ） 由于光子流以间断入射的形式投射到探测器表面，以及探测器内部光子转换成电子动能而产生的电子流具有统计涨落的特性，形成散粒噪声，属于白噪声。 式中， 为散粒噪声电流均方值(A)；q为电子电量(C)； 为平均电流(A), 为测量系统的噪声等效带宽(1/s)。 1. 噪声（noise） * （2）产生-复合(G-R)噪声（Generation-Recombination noise ） 光导型探测器的G-R噪声是由于半导体内的载流子在产生和复合过程中，自由电子和空穴数随机起伏所形成，也属于白噪声。 * （3） 热噪声（ Thermal noise ） 热噪声由电阻材料中离散的载流子(主要是电子)的热运动造成。只要电阻材料的温度大于绝对零度，则不管材料中有无电流通过，都存在着热噪声。热噪声电流的均方值为 式中，k为玻兹曼常数；T为元件的温度(K)；R为探测器的电阻值。 使探测器致冷或者探测器及前置放大器一起制冷，可以减少热噪声电流。 * （4）1/f噪声（ Flicker noise ） 1/f噪声的产生机制还不很清楚，一般认为，它与半导体的接触、表面、内部存在的势垒有关，所以有时叫做“接触噪声”，其值随信号调制频率的增加而减少，即 典型光导型探测器的噪声频谱 请问探测系统信号的频率最好选在哪个区域？ * （5）温度噪声 由热探测器和背景之间的能量交换所造成的探测器自身的温度起伏，称为温度噪声。 探测器的总噪声电流的均方值等于各项互不相关噪声电流均方值之和 * 信噪比（SNR，signal-noise-ratio）的概念： 只有信号电流足够强，才能与噪声电流区别开来。于是，用信号电流与噪声电流的均方根值之比——信噪比，作为表征探测系统探测能力和精度的一个十分重要的指标，记作SNR。 * 噪声等效功率 NEP： 噪声等效功率（Noise Equivalent Power ）是探测器产生与其噪声相等的信号所需入射到探测器的辐射功率，即信噪比等于1时所需要的最小输入光信号的功率 用NEP描述探测器探测能力的一个不方便之处是数值越小，表示探测器的探测能力却越强，相对缺乏直观性。为此一般引入NEP的倒数——探测率D来表示探测器的探测能力 * 噪声等效功率 NEP： 由于探测率与探测器面积以及测量系统的带宽有关，对于比较不同类型、不同工作状态探测器的探测性能存在不便，为此，更常用的是比探测率D* 即用单位测量系统带宽和单位探测器面积的噪声电流来衡量探测器的探测能力。 * 重新审视上面的问题： 下面探测器的参数代表啥意思？ * 下面的曲线又代表啥意思？ * 关于分组 从下次课起开始分组