以遗传演算法求解I最终测试之排程问题.pptVIP

以遺傳演算法求解IC最終測試之排程問題 國立成功大學工學院工程管理在職專班 學生 : 吳淑貞 指導教授 : 黃悅民博士 Outline 半導體製造流程簡介 IC 最終測試流程簡介 * * 半導體製造流程簡介 IC 最終測試流程簡介 IC 最終測試排程概念 機台指派規則 批次優先順序決定規則 遺傳演算法概念 以遺傳演算法求解IC 最終測試排程之研究架構 Front Eng Wafer Sort Product Design Board Assembly Materials Fab Wafer Fab Wafer Bank Wafer Die Bank Assembly Final Test Bin Inventory Board Insertion Assembly Finished Goods Inventory Board Testing Design House Test IC Design Program Sort Fab Probing Final Test Assembly Assembly Final Test B/L Assembly Assembly House IQA Burn In Final Test QA Top_mark Lead Scan Bake TR Pack Major Process in Final Test 選擇一待測試訂