SPECT的性能参数1.pptVIP

* * * 光电倍增管调节不良 一个或多个管子或晶体失效 晶体本身的缺陷或损坏、高计数等 描述当探头受到空间均匀通量的γ射线 照射时，图象中计数密度均匀性的程度。描述γ相机探头对一均匀泛源的响应 泛源均匀性可由探头本身（固有均匀性），或探头带准直器（系统均匀性）所展示的均匀性程度来定量计算，也可以根据全视野计数密度的最大差异（积分均匀性）或特定距离内计数密度的最大变化率（微分均匀性）来定量计算。 积分均匀性 IU ＝ (max - min) / (max + min) ×100% 探头视野中的均匀性 微分均匀性 DU = ( Hi - Low ) / ( Hi + Low ) Hi 与 Low X方向及Y方向相邻5个像素间均匀性 光电倍增管增益校正不良 一个或多个管子或晶体失效 空间的非线性 晶体的损坏 均匀性：γ射线均匀照射探头时在其所产生的平面图像上计数的均匀分布情况。 影响因素：PMT老化、前置放大电路增益不匹配、PHA分析不稳定、能峰漂移、直流高压不稳定、采集和重建等过程中产生的噪声等，从而影响均匀性和灵敏度。 分类：平面系统均匀性（固有均匀性和系统均匀性）和断层均匀性。 描述入射的γ射线强度与测得计数率之间的非线性关系，以及在高计数状态下引起的图象空间位移。 ? 最大观察计数率 ? 20%丢失时观察计数率 ? 观察计数率随活度的变化曲线 描述入射到探头上的γ光子，被观察的概率. 灵敏度(sensitivity)描述探头对源的响应能力 系统平面灵敏度 – 探头对平行于该探头放置的特定平面源的 灵敏度 – 与准直器的类型、晶体厚度、窗宽、源的 种类及形状有关 – 与源距准直器的距离无关 ? 单位活度在单位时间内的计数 ? 单位：counts/(min·MBq)、 counts/(s·MBq)、或counts/(min·μCi) 系统灵敏度可以分为层面灵敏度和体积灵敏度。系统灵敏度常用归一化体积灵敏度表示。 层面灵敏度：指在一个层面内有效探测入射γ射线的能力。 体积灵敏度：层面灵敏度之和。 系统灵敏度：体积灵敏度除以轴向视野的长度或测量模体的长度。 与晶体的厚度和脉冲高度分析器的窗宽直接有关，与光子能量成反比例关系 多窗空间配准度（multiple window spatial registration） ? 描述不同能窗成像时，γ相机对不同 能量光子的定位能力 ? 用不同能窗时一点源的图像在X及Y 方向上的最大位移表示。 与准直器壁所覆盖晶体面积和总面积的比值有关，与准直器厚度成反比例 描述探头对视野之外源的屏蔽能力 对患者本身FOV之外放射性的屏蔽 用点源（点源与探头平面的垂直距离为20cm）在距探头FOV边缘前后10、20、30cm的最大屏蔽计数与在FOV中心处计数率的百分比表示。 对周围环境放射性的屏蔽 将点源置于距地面1m，距探头两侧及前后2m处。用探头分别朝上、下、左、右时的计数率与FOV中心处计数率的百分比表示 屏蔽泄漏=最大屏蔽计数率/FOV中心计数率×100% 对患者本身FOV之外放射性的屏蔽 对周围环境放射性的屏蔽 点源位置 侧面距探头2m 检查床方向距探头2m 探头 朝上、下、左、右 ? 断层均匀性 ? 断层空间分辨率 ? 旋转中心 ? 断层对比度 ? 断层灵敏度和总灵敏度 ? 对均匀体源重建断层图像的放射性分布的均匀性 ? 断层图像均匀性比平面图像均匀性差 – 探头旋转可造成均匀性降低 – 重建过程对非均匀性有放大 ? 保证断层图像均匀性首先要使探头的均匀性处 于最佳状态 ? 与重建算法及总计数有关 ? 用断层图像上的像素计数值的相对误差来表示 断层空间分辨率 ? SPECT断层分辨率： – x方向、y方向、z方向 –径向、切向、轴向（z方向） ? 用点源或线源的扩展函数在不同断层中的半高宽（FWHM）来表示 ? SPECT断层空间分辨率低于平面图 像分辨率 ? 与准直器的类型、晶体厚度、衰减 校正、散射校正、重建算法等有关 断层空间分辨率 ? 无散射断层空间分辨率 –用空气中的点源测试 ? 有散射断层空间分辨率 – 用水模中的线源测试 ? 有散射断层空