毕业论文--电子器件测试仪.docVIP

学科分类号 0712 本科生毕业论文(设计) （英文）：The design of electronic devices tester 学生姓名：　　 　　 　　 　　 　　 指导教师：　　　　 2010年12月-2011年5月　　　 2011年5月8日 怀化学院本科毕业论文（设计）诚信声明 作者郑重声明：所呈交的本科毕业论文（设计），是在指导老师的指导下，独立进行研究所取得的成果，成果不存在知识产权争议。除文中已经注明引用的内容外，论文不含任何其他个人或集体已经发表或撰写过的成果。对论文的研究做出重要贡献的个人和集体均已在文中以明确的方式标明。本声明的法律结果由作者承担。 本科毕业论文（设计）作者签名： 年 月 日 摘 要 I 关键词 I Abstract I Key words I 1 前言 1 2 系统方案论证与设计 3 2.1 主控模块设计方案与论证 3 2.2 555测试模块与741测试模块设计方案与论证 4 2.3 电容测试模块设计方案与论证 5 2.4二极管和三极管测试模块设计方案与论证 6 3 测量仪总体方案设计与实现 7 4 硬件电路设计 8 4.1 主控模块设计 8 4.1.1 MCS-51芯片引脚功能 8 4.1.2 复位电路与上拉电阻设计 11 4.1.3 电源电路与报警电路设计 12 4.2 液晶显示模块设计 13 4.3 555芯片测试模块设计 14 4.4 741运放测试模块设计 16 4.5 电容测试模块设计 17 4.6二极管和三极管测试模块设计 18 5 软件设计 19 5.1 主程序设计 19 5.2 555芯片测试程序设计 19 5.3 741运放测试程序设计 19 5.4电容测试程序设计 19 5.5二极管和三极管测试程序设计 19 6系统测试 24 7 总结 24 参考文献 25 致 谢 26 附录A 27 附录B 28 附录C 28 电子器件测试仪 摘 要 MCS-51单片机为核心能检测二极管、三极管、电容、555芯片和运放741的电子器件测试仪，可以通过不同按键来设置所要检测的器件，将检测的结果显示在液晶屏上。所有的测试都基于一个原理，就是当被测器件插入相应插座后，它与周围的器件构成一个功能电路，该功能电路的输入信号由单片机提供，单片机通过检测功能电路的输出看与正常情况下相符与否来考察器件的质量。测试结果说明：本课题设计的电子器件测试仪能检测555芯片、运放741、二、三极管的好坏。 关键词 The Design of electronic devices tester Abstract With the development of the electronics industry, the quality of electronic components have become increasingly demanding in order to ensure the normal operation of electronic systems, in applications we often want to determine the quality of electronic components. Therefore, the design of reliable, safe and convenient electronic device tester has a great practical necessity. This topic is based on MCS-51 microcontroller core can detect diodes, transistors, capacitors, op amps 741, 555 chips and the electronic device tester, you can set different keys to the device to be detected, the test results displayed on the LCD screen . All tests are based on a principle, that is when the device under test into the corresponding socket, it and the surrounding form a functional circuit device, the functional ci