2011.16第十六课、电气工程.嵌入式开发调试测试.pptx

　　;　　;嵌入式系统开发过程;嵌入式系统开发过程;嵌入式编译器;嵌入式测试器;嵌入式系统开发的调试;调试的硬件支持;嵌入式应用开发的调试（3）;硬件支持调试：ARM 实时跟踪;嵌入式开发调试方法;嵌入式开发的人有两类;嵌入式集成开发环境（1）;嵌入式集成开发环境(2);ARM IDE举例1：ARM SDT;组成;ARM IDE举例2：ARM ADS ;组成;ARM IDE举例3：Multi 2000 ;组成;ARM IDE举例4： Hitool for ARM ;GNU;　　;调试器原理;插桩（stub） ;片上调试（On Chip Debugging）;Case study: Motorola PPC的EPBDM;OCD的特点;代理（1）;代理（2）;代理（3）;　　;模拟开发调试方式;模拟开发调试方式（2）;模拟器的构成;36;模拟器软件;　　;39;ROM Monitor调试方式;ROM Monitor调试方式（2）;ARM 的Real-Time Trace? 和RealMonitor;ARM实时监控;　　;45;JTAG仿真调试方式;47;JTAG仿真调试方式;49;JTAG基本原理（2）;JTAG基本原理（3）;52;TAP;TAP的信号;TAP的信号（2）;TAP对DR的数据访问;JTAG的状??机（TAP）;JTAG的状态机（TAP）;JTAG链的组成;JTAG链的组成;ARM7TDMI的JTAG调试结构;ARM7TDMI的JTAG调试结构（2）;ARM7TDMI的JTAG调试结构（3）;ARM7TDMI的JTAG标准链（1）;ARM7TDMI的JTAG标准链（2）;ARM7TDMI的JTAG标准链（3）;ARM EmbeddedICE-RT;ARM EmbeddedICE-RT（2）;EmbeddedICE的结构;ARM7TDMI中断点的设置;断点的类型;ARM JTAG主要特征;73;　　;在线仿真(ICE)调试方式;76;ICE案例1：JEENI仿真器;78;使用 Multi-ICE 调试;80;81;82;83;84;　　;嵌入式测试的重要性;与传统测试方法相同之处;嵌入式软件测试;目标环境测试与宿主环境测试;所有测试都放在目标平台上的不利因素;辅助嵌入式软件测试的工具;性能分析工具 嵌入式系统的性能要求。例如，在特定时间内处理一个中断，或生成具有特定定时要求的一帧。 开发人面临的问题是决定应该对哪一部分代码进行优化来改进性能。 性能分析工具会提供有关的数据，说明执行时间是如何消耗的，是什么时候消耗的，以及每个例程所用的时间。 根据这些数据，确定哪些例程消耗部分执行时间，从而可以决定如何优化软件，获得更好的时间性能。 对于大多数应用来说，大部分执行时间用在相对少量的代码上，费时的代码估计占所有软件总量的5%-20%。 性能分析工具不仅能指出哪些例程花费时间，而且与调试工具联合使用可以引导开发人员查看需要优化的特定函数，性能分析工具还可以引导开发人员发现在系统调用中存在的错误以及程序结构上的缺陷。;;