核辐射应用仪表7.pptVIP

第七章 β辐射式仪表 β辐射式仪表的工作原理主要是利用β粒子（或电子）与物质作用发生电离、透射、散射（包括反散射与吸收等效应），用以观察和分析物质的各种物理参量及其变化。所用放射源主要是核素衰变放射的β-、 β+和俄歇电子放射源、极少数情况下用小型电子加速器产生的电子束。 β辐射式仪表常用的探测器有气体计数管、塑料闪烁体计数器、金硅面垒探测器等 β辐射式仪和α辐射式仪在许多应用方面功能相近或完全相同 特点：带负电，速度更高，电离能力较弱，射程较长（在气体中的射程可达20 m），易散射和改变运动方向。 要根据探测器类型、探测效率、几何位置、测量时间、以及精确度等来确定放射源的活度。工业测厚用源活度一般为3.7GBq--37GBq。 国产SM-2型β透射式厚度计。 β透射式测厚仪应用要注意的问题： 合适的安装位置，需加密封外壳，厚度不宜过大，否则造成可利用放入强度减弱，不能保证测量精度 严格要求源与探测器的距离 物料测试导向始终尽可能对中 保护设备免受杂质、灰尘和污物的沉淀 特别是对轻质量材料的测量，要求维护测量间隙内的环境温度和湿度保持恒定，避免由环境条件变化引起测量误差 2、反散射β射线强度与覆盖层厚度的关系 实验结果表明：如果原子序数Z1，厚度大于饱和厚度的材料（称为衬托物）上，覆盖一层原子序数为Z2（Z1)的材料（称为覆盖层），则反散射β射线强度随覆盖层厚度的增加而增加，最后达到饱和值，饱和值就等于原子序数Z2的材料单独存在时饱和反散射β射线强度。如果Z2Z1,则反散射β射线强度随覆盖层厚度的增加而减少，最后不再变化，并且也等于原子序数Z2的材料单独存在时饱和反散射β射线强度。 3、利用β粒子反射测量覆盖层厚度，一般用相对测量方法。先做标准样（同样的基本材料、和覆盖材料，但厚度不同的系列样品）测出不同覆盖厚度时反散射辐射强度，划出刻度曲线、原始的办法是根据仪表的读数从曲线查出覆盖层的厚度。现代可用微机直接与标准数据对照直接显示厚度。 4、所用放射源的活度，则根据源到散射体、散射体到探测器的距离，探测器的效率，仪表响应时间，测量误差等因素并通过实验选定。源活度大，有利于提高测量结果准确性。 5、β反射厚度计的设计包括辐射源、源容器、测量散射的探测器 辐射源的选择受需要测量的厚度范围和材料的原子序数影响 β射线测量效率高，哪种探测器都可以用，GM管、闪烁计数系统、半导体探测器、电离室 6、 β反散射覆盖层厚度测量系统布置 示例：国产β散射式覆盖厚度计 放射源90Sr,强度为5豪居里，呈长条状，装在电离室窗前面。电离室由高压、收集电极、保护环等组成。高压电极和收集电极之间由聚四氟乙烯隔离，高压电极加一负高压， 内壁衬1mm厚的铅皮，用以提高探测 效率，保护环接地，使收集电极上的 漏电流被分路掉而不进入到输出电路。 工艺流程中厚度测量。 由于工艺流程中厚度监测是随机性样品监测，最好采用响应快的脉冲型探测器及测量设备。用时间门电子数字计数器作为信号处理是较好选择，门电路由石英振荡器的分频信号按一定周期开启，在一定时间间隔内、门电路允许对所有探测到的脉冲计数，并在结束时显示结果 第一节 β辐射式测厚仪 基本工作原理:β射线通过厚度为d的吸收体后，其辐射强度由 变为 ，并服从指数衰减规律，即 为质量衰减系数； 穿过物体后的射线强度。 β辐射式测厚可有两种方法：透射法、散射法 20s 2s 响应时间0.2s 150~12500 500~12500 1500~12500 284d 144Ce 60~5500 200~5500 600~5500 28.8a 90Sr 20~1500 70~1500 200~1500 3.77a 204Tl 4~150 14~150 40~150 2.62a 147Pm 测量厚度范围（g/m2),精确度1% 半衰期 放射源 表7-1 测厚仪常用β源 应用示例: 国产FDC-2型β射线透射式厚度仪； 204Tl放射源1（强度为10豪居里）的β射线经过被测薄膜射入电离室2； 204Tl放射源5（强度为5豪居里）的β射线经过标准薄膜射入补偿电离室4；两个电离室连接成差分电路，流过高阻7上的电流为两个电离室输出电流差，在高阻7产生直流电压，经振荡电容器8交流，经交流放大、相敏检波变为直流，由显示仪表11显示。热敏电阻R16，补偿温度变化。 仪表用放射源是20mci的90Sr放射源，用塑料闪烁体和光电倍增管组成β探测器，计数线路采用对数积分线路，把原来与厚度成指数关系的脉冲速率转换为与厚度成线性关系的电压值，使仪表刻度线性化，该仪表的