显微镜光片和薄片微机分析系统-维普.PDFVIP

维普资讯 卷(v 一 )11，期(Num~r)1，总(T~a1343 矿 蜘 岩 石 页 (P )B6—91，l99l一3一(Mar一1991) M [NERALOGY AND pETROLOGY 显微镜光片和薄片微机分析系统 刘岫峰 (成都地质学院，成都 6】0059) 【摘要】 显最犍光 片和薄片擞机分析 系辘不弪任何 中问囤像转换 一直接 将显饭境蹿像敷字化 并同时逞八计算机处理一它既能蛊辉专家对 蹿像 (特 相)鉴剥的智慧，卫盹发挥计算机高速敷据处理的优势，使二者充分史互．达 到i佳匹配。是 目前高速度、太规模、多学科处理显世境剖量数捂较理磐的 枭蜣 。 【关键调】 显世饨方法 国像分析 光片 薄片 0 引 言 在光片和薄片中对矿物、岩石、矿石、矿产品、铸体以及材料、金相、生物 医学等样品的组 分、组构、结构、组织、构造进行测量和分析 ，是显般镜的基本任务。科学技术的发展，要求能高 效率、多项 目地测试各种复杂样品，以满足高速度、大规模、多学科数据处理的需要。到 目前为 止，有兰类测试系统：第一类全部由手工完成测试分析 ·第二类是机械系统，包括各种由机械和 电磁力驱动的计数器 (如电动求积仪、机械计点器等)；第三类是以电子计算机和电视摄像一显 示部件为主体构成的自动和半 自动图像分析系统n 第一、二类测试系统已不能满足 目前科学技术发展水平的要求}第三类虽然有效率高、能 大规模测试的优点，但 由于其物相鉴别能力很低，无法对多种类型、尤其是复杂物相和相似物 相样品进行测试 以岩矿光片 薄片为倒，据近十年的统计，该系统只能处理实际样品的 1／S 弱，且系统复杂，价格昂贵 。 第三类系统的这些弱点主要是由图像的电视转换和灰度检测造成的0]。显般镜光学图像 转换成电视信号时，不仅损失大量的原始光学信息而使图像模糊并产生畸变 ·同时，许多光学 性质相近的物相或组分，因其灰度 电平相近而无法分别检出，更不用说区分同一组分中的不同 成 因类型 为 了弥补灰度检测之不足，在灰度检测部件之后又跟随了图像 自动处理亚系 收蕾日期 ，1991一D1一D2 维普资讯 第 l】卷 第 l期 蔼蚺峰 。 铸光片和薄片鬣机卦析系统 坑和光笔编辑器，以增强反差、圈定边界、图一(物相)提取和归类 。 笃编辑器是在 自动图像处 理无效 的情况下 ，最后实施人工手动干预。但 自动图像处理要耗去大量的硬件和软件 ，增加了 仪器 的复杂性和操作难度 。在 电视荧光屏上鉴别物千珂再用光笔检出时，图像也均模糊不清 。这 些是显微图像 自动分析系统在应用 中的最大困难 ，因而未能普及和实用化 。 近年来研制成功的描绘式显微 图像分析系筑可在专家识别下不经电视转换和图像处理直 接送人计算机，使专家和计算机之间充分交互，简便快速，达到了实用化阶段。 1 内映式图像描绘输入器 内映式图像描绘输入器是描绘式图像分析系统的图像输入部件，由显徽描绘管、数字化板 和坐标读出器 3部分构成 。 1．1 显微描绘管 显微描绘管是将显微镜体外物体(如绘图设备、数字化板等)的图像反映到 显微镜视域内并同视域 内样品(光片、薄片等)图像重合的光学器件。其结构和光路如图 1所 示 。L和 【吐构成描绘管透镜系统，LI是物镜，L2是谓焦镜lR．和 R 构成管的反光一透光 系统 ，R一是前反光镜，R。是透光一反光镜。L2和 是显搬镜光学成像系统。物体cD通过R，， ，L2和R：成像CD，‘调节 可将CJD调节到显徽镜物镜焦平面上。样品图像AIBr通过R 的 透射作用也到达显微镜物镜焦平面上，即 D和 AB重台，最后 由显微镜 目镜看到 cD和AB 的重台图像AB℃ 。 匮 l 卫最描培蕾光辟曩蛄构示意 禹