试验逻辑门电路测试一共2周试验内容测量DTL与非.DOCVIP

实验一、逻辑门电路测试一（共2周） 一、实验内容： 测量DTL与非门74LS00参数 测量一个与非门2输入端的Ird 测量一个与非门2输入端的Vs、Vx、VOH、VOL 测量一个与非门2输入端的Rs和Rx 测量输入端分别接高/低电平情况下，芯片静态空载及有载功耗 测量芯片动态有载功耗，输入方波频率定为1kHz、100kHz、1MHz 选择CD4011，重做内容1中的（4）和（5）项 观测CD4011的输入输出传输特性 用示波器双通道观测该芯片的输入输出电压传输特性曲线 输入100kHz方波信号，记录输入输出的电压波形，估算该门电路的平均延迟时间 二、思考题 1、2、3 实验二、逻辑门电路测试二； 实验四、晶体振荡器 一、实验内容： 用环形振荡器测量门的延迟时间（74LS00） 用脉冲形成法测量门的延迟时间（74LS00） 设计实现1us的脉冲生成电路，记录波形（）实验三、单稳态电路与无稳态电路 一、实验内容： 用阻容延迟电路组成单稳态及无稳态电路 按图E3-2用74LS00组成单稳态电路，观察并记录各点信号波形；（选做）用双脉冲信号作为触发，观察变化； 按图E3-3用74LS00组成无稳态电路，观察并记录各点信号波形； 按图E3-9用CD4011多谐波振荡器3-5用 实验五、组合逻辑电路的应用 一、实验内容： 全加器：用异或门74LS86和与非门74LS00实现两位二进制全加器，并进行适当验证； 分配器：用3-8译码器74LS138实现数据分配器。在输入端加入方波，通过不同地址码设置从不同输出端测试，并记录输出波形； 分时传输：用8-1选择器74LS151和3-8译码器74LS138组成多路数字信号分时传输电路，测试并记录相应的波形传输关系； 数值比较器：针对数值比较器74LS85，选择几种输入组合，观察并比较输出结果，验证其逻辑功能； 四舍五入电路：用数值比较器74LS85构成一个四舍五入电路。当输入数值大于等于5时，输出F=1；否则输出F=0。连接电路并验证该逻辑功能； 二、思考题 1、3 实验六、计数器和脉宽测量 一、实验内容： 以信号发生器为时钟源调试时钟整形电路，并分别调试两路计数及显示电路，记录必要的信号波形及现象； 设计一路N进制（0N10）加减计数器，用1KHz时钟信号测量并记录计数器各点信号波形；（如10进制加计数器、7进制减计数器） 设计实现两路级联的100进制连续加减计数器，输入低频时钟信号（如1Hz），观察数码管显示，注意溢出指示； 设计实现简单的脉宽测量仪，用以测量按键时间或外接脉冲宽度，溢出时要求有溢出指示； 二、思考题 1 实验七、同步时序系统设计（共4周） 一、实验内容： 子模块电路测试： 基本时钟子模块电路中CD4520计数器的计数、清零和使能功能，记录必要的信号波形关系及现象； 显示子模块电路中用/CL2和/CL3控制端测试CD4511锁存译码驱动器及数码管显示，记录必要的信号波形关系及现象； 接收数据及计数子模块电路中CD4526是否可以正常输出“O”信号，记录必要的信号波形关系及现象； 数据二-十进制转换子模块电路中74HC160的计数输出； 焊接、装配和电路调试，经检查无误后加电测试验证系统功能； 控制模块设计及系统装调测试部分提交一份实验报告； 实验九、程序控制反馈移位寄存器（共2周） 一、实验内容： 设计电路中各逻辑表达式，用erilog语言进行编程描述，并在编译软件环境中通过设置测试矢量完成相应的仿真验证； 在编译软件环境中选择V8B-25LV）及其I/O引脚，对所设计的程序进行编译，并通过烧录器下载到GAL芯片。调试电路并记录相应波形； （选做）把状态计数电路一并设计实现在一片实验十二、模数和数模转换 一、实验内容： 基本调试和检测： 调节W1改变基准电压为VREF=2.55V； 测量并记录时钟部分电路各点波形； 模数（A/D）转换检测，记录必要的现象和信号波形： 手动单次测量； 连续测量；数模（）转换检测， 连续测量； 测量电路总共所需的电流大小；实验十五、CPLD可编程数字逻辑系统（共2周） 一、实验内容： 程序控制反馈移位寄存器代码移植； 可逆计数器，数码管（共阴极）显示0~99（1Hz）； 按键显示（共4个键），要求2-10进制转换之后进行数码显示； 同步时序系统设计实现； 秒表设计实现（可换量程） 芯片型号：； 晶振频率：10MHz；