材料设计及系统模拟-1-绪论.pptVIP

材料设计及系统模拟 主讲教师：房明浩 联系方法 测试楼214： 测试楼312： 小灵通： 手机： Email： fmh@cugb.edu.cn 教育背景： 1996-2000 清华大学材料科学与工程系本科 2000-2005 清华大学材料科学与工程系博士 研究方向： 特种陶瓷及特种烧结技术； 无机材料的合成制备技术； 感兴趣的研究方向： 资源的循环利用； 高温防护用材料及系统。 我们怎样研究材料？ 材料科学与工程的四要素 材料研究最主要的问题： 使用性能 合成与制备过程 性质 组成与结构 四者之间的关系 材料的使用性能 不同的使用环境对材料提出了不同的要求。 满足使用性能的要求是材料研究的出发点，也是材料研究的最终目标。 高炉的结构 1-炉底耐火材料； 2-炉壳； 3-生产后炉内砖衬侵蚀线； 4-炉喉钢砖； 5-煤气导出管； 6-炉体夸衬； 7-带凸台镶砖冷却壁； 8-镶砖冷却壁； 9-炉底碳砖； 10-炉底水冷管； 11-光面冷却壁； 12-耐热基墩； 13-基座 材料的合成制备技术 块体材料的制备技术 膜材料的制备技术 粉体材料的制备技术 复合材料的制备技术 材料的性质 化学性质 物理性质 力学性质 电学性质 热性能 光学性质 声学性质 磁学性质 各种耦合性质 材料的组成和结构 材料的组成和结构决定了材料的性质和使用性能。 测定材料成分的方法 化学分析 各种光谱 红外光谱-拉曼光谱 X荧光光谱 原子光谱 色谱 质谱 测定材料相结构和组成的方法 XRD LEO 1450VP Resolution:2.5nm Magnification: 15 - 300,000x Variable Pressure Vacuum: 1Pa to 400Pa (3 Torr) JSM-6301F FEG SEM SEM image (IC) SEM照片 Scanning Probe Microscope（SPM) Scanning Tunneling Microscope (STM) Atomic Force Microscope (AFM) Scanning Tunneling Microscope (STM) resolution Horizontal (x-y direction ): 0.1nm Vertical (z direction): 1nm detection depth: 1-2 atomic layer (no damage on the specimen) Can work in air, solution, vacuum can only be used for conductor and semiconductor Atomic Force Microscope (AFM) resolution Horizontal (x-y direction ): 0.15nm Vertical (z direction): 0.05nm Can work in air, solution, vacuum can be used for both conductor and insulator 光学显微镜 研究材料组成和结构的目的是： 为了建立材料组成和结构与材料合成制备方法、性质和使用性能之间的联系； 探究材料具有这些性质和使用性能的原因，材料合成制备的工艺过程对材料结构的影响规律； 最终的目的是在这些规律和理论的指导下通过配方和工艺实现材料组成结构的控制，获得满足要求的使用性能。 * 使用性能 组成与结构 性质 合成与制备过程 测定材料结构的方法 各种显微镜 Micron scale Human scale Grand scale Astronomical scale Nano scale Length scale and investigating tools 100 102 104 106 108 1010 1012 10-2 10-4 10-6 10-8 10-10 Ultramicroscopy and ultrstructure 光学显微镜 10-12m 10-10m 10-8m 10-6m nanometer 纳米 电子显微镜（内部与表面结构与性能） 近场光学显微镜 扫描探针显微镜（表面结构与性能） ? JEM-2010F FEG-TEM High resolution TEM (HREM) 新型人造纳米结构 various TEMs Electron Diffraction Pattern Single cry