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应用文章 高速测量需要相应的记录长度 目前高速串行总线一致性测试和验证工作的现状之一就 同样重要的是，要记录的时间量（以时钟周期、码流位数 是，对捕获的信号进行分析的需求大量增加。眼图、抖动 或单位间隔来表示）也在增多。记录长度不足的示波器可 分析、调制和时钟测量以及各种信号质量测量等技术要求 能无法准确有效地传达结果，或者效率不高，或者甚至根 都在影响着示波器。高性能的示波器不仅要能进行捕获还 本无法实现。 要能够进行分析（以高取样速率采集的详细信号数据）。 高速测量需要相应的记录长度 应用文章 取样速率、时间和记录长度 为便于讨论起见，我们假定有这样一个存储器，其存储容 在前面板之后，在数字存储示波器 (DSO) 体系结构中包括 量为 1000000 (1M) 点；这个容量小于多数实验室示波器， 了捕获系统（含触发器）、显示系统和存储器。此存储器存 但足以说明此概念。如果以每秒 100000 个样本的速率捕获 的信号，那么，存储器将在 秒后填满。 储捕获过程中累积的取样点。存储器的容量当然是有限的， 50 kHz 10 目前带宽最大的示波器的存储器深度是从 （ 万点） 接下来，假定将取样速率提高到每秒1000000 个样本(1 MS/s)。 250K 25 到 （ 万点）。 这个速度足以正确地捕获频率为 500 kHz 的信号。对于这 64M 6400 个新的取样速率，存储器仅用 秒便可填满。 专有的体系结构的不同选择决定了存储器的最终大小。有 1 些示波器系统将重要的高速元件，如A/D 、信号分离器、存 现在，再将原始的采样频率乘以 40000 。取样速率变为每 储器，集成在单一个芯片上。由于太多功能在分享芯片空 秒 400 亿个样本，这是采用目前最快的串行传输标准所需 间，因此这种方法限制了高速存储器的深度。使用此体系 的范围。难以想像 1M 存储器会得出一个什么样的时间结 结构的仪器可以用较慢的“外部”存储器补充小的高速存 果！该存储器仅可存储 微秒的信号数据，对受观察的信 25 储器，“外部”存储器不能以高取样速率存储数据。 号频率来说微不足道。 另一种方法是，使用可获得的最快的半导体技术〔尤其是 伪随机位流对示波器的速度和深度提出了更高要求 硅锗 (SiGe)〕集成示波器的“前端”，并使用专用的高速取 对采用串行总线技术（如SATA II 和 PCI Express ）的设备， 样存储器。此体系结构可以同时支持示波器的最大取样速 其严格的验证和故障排除测量取决于存储长数据码型的能 率、带宽和记录长度，并且取样存储器不受硅空间因素的 力。这意味着需要充足的存储器深度。 制约。Tektronix TDS6000C 系列采用了此配置，提供存储 器深度可达64M ，且访问的仪器取样速率为40 GS/s的高速 这种情形的一个示例是 PRBS2x -1 码型。该伪随机位流 取样速率。 (PRBS) 工具主要通过一个完整的二进制值序列进行循环， 其中总数可以是 的任意