实验二 X射线荧光光谱分析实验.doc

实验二 X射线荧光光谱分析实验 目的要求 1.了解X射线荧光光谱仪的基本构造、原理和方法。 2.掌握X射线荧光光谱分析粉末压片制样方法。 3.学会利用X射线荧光光光谱仪对样品进行元素定性分析，及定量分析过程。 基本原理 1.X射线光谱仪的结构及原理 X射线荧光光谱仪是用X光或其他激发源照射待分析样品，样品中的元素之内层电子被击出后，造成核外电子的跃迁，在被激发的电子返回基态的时候，会放射出特征 X 光；不同的元素会放射出各自的特征 X 光，具有不同的能量或波长特性。探测系统接受这些 X 光，仪器软件系统将其转为对应的信号。 X射线荧光光谱仪主要由三达系统组成：X射线激发源系统、分光光度计系统和测量记录系统。XRF的激发源采是X射线，其产生的原理和方式与XRD相同，分光光度计的作用是将一多波长的X射线束分离成若干单一波长X射线束，分光光度计的色散方式有两种，即波长色散法和能量色散法。 2.X射线荧光光谱分析的原理 元素产生X射线荧光光谱的机理与X射线管产生特征X射线的机理相同。当具有足够能量的X射线光子透射到样品上时会逐出原子中某一部分壳外层电子，把它激发到能级较高的未被电子填满的外部壳层上或击出原子之外而使原子电离。这时，该原子中的内部壳层上出现了空位，且由于原子吸收了一定的能量而处于不稳定的状态。随后外部壳层的电子会跃迁至内部壳层上的空位上，并使整个原子体系的能量降到最低的常态。根据玻尔理论，在原子中发生这种跃迁时，多余的能量将以一定波长或能量的谱线的方式辐射出来。这种谱线即所谓的特征谱线。谱线的波长或能量取决于电子始态（n1）和终态能级（n2）之间的能量差： 对于特定的元素，激发后产生荧光X射线的能量一定，即波长一定。测定试样中各元素在被激发后产生特征X射线的能量便可确定试样中存在何种元素，即为X射线荧光光谱定性分析。元素特征X射线的强度与该元素在试样中的原子数量成比例。通过测量试样中某元素特征X射线的强度，采用适当的方法进行校准与校正，可求出该元素在试样中的百分含量，即为X射线荧光光谱定量分析。 实验内容与方法 仪器与试剂 荷兰帕纳科公司提供的IQ标样、待测样、清洁用酒精、电子天平、压片机、模具、硼酸、玛瑙研钵、夹子、剪刀、毛刷等。 2.制样方法 X射线荧光光光谱分析结果的准确度与样品的制备有关。由样品带来的误差主要有：①样品组成不一致所引起的吸收—增强效应带来的误差；②由于样品的物理状态不一致及样品的化学组成不均匀所造成的误差；③由于样品中元素的化学结合状态的改变所引起分析波长的位移和形状改变带来的误差。 样品的制备方法有很多种，主要有熔融法和压片法。 （1）压片法：压片法有粉末直接压法、加入粘结剂压片、双层压片、金属环压片等。粘结剂压片法的步骤为：将清洁模具底座置于模具盘上，放置钢环弹簧，并将内外套环放好。旋转内环使其与模具盘完全接触；称取一定量的研磨好的样品倒入模具内环中，将粉末刮平，在外环中加入粘结剂；轻按住搅拌器，转动内环后将内环抽出，并取掉搅拌器，在样品上部加入粘结剂至其完全覆盖样品，将外环上部盖子旋转盖紧；将装有待压样品的模具放在压机上加压，保持适当时间后取出样品。 压片法是一种在X射线荧光分析谱分析中应用广泛的制样方法。压片法的样品未被稀释，适合微量元素分析。压片法所需要的样品量以不少于2.5克为宜。 （2）熔片法：有些样品即使磨成很小的颗粒，也不能保证均匀性良好。但将待测样熔融成玻璃体，就可消除矿物效应和颗粒效应对测试结果的干扰。 熔融法除了可以克服矿物效应和颗粒效应外，还可以用纯氧化物或用已有的标准样品中加添加物的方法制得新的标准样品。一般情况下，熔剂和试样比通常不低于5:1。熔融法也存在消耗试剂量相对较大，制样时间较长和增加分析成本的缺点。稀释降低了分析样品的强度值，并含有大量的轻元素，使得背景强度增加，对测定恒量元素是不利的。熔融过程中某些元素产生挥发，影响测定准确度。 ①溶剂和添加剂 在周期表中可形成玻璃的元素有硼、硅、锗、砷、氧、硫和硒等。常用的熔剂多为锂、钠的硼酸盐，它们与样品在高温熔融过程中所产生的化学反应相当复杂，它在很大程度上取决于熔融温度、熔剂与样品间的比例及样品的组成。 对熔剂的基本要求：一定温度下能将试样完全熔融；容易浇铸成玻璃体，该玻璃体有一定的机械强度和化学稳定性，不易潮解；熔剂中不能含有待测元素。 常用熔剂为四硼酸锂和偏硼酸锂组成的混合熔剂，优点是熔点低，流动性好，便于浇铸。它们几乎适用于所有含硅的或含铝的氧化物矿石及无机非金属材料。 为降低基体中元素间吸收增强效应，在熔融过程中加重吸收剂如BaO，CeO2，BaSO4，L