CMI165铜厚测试仪中文操作手册.docVIP

CMI165中文操作手册 仪器介绍 仪器用途 CMI165是一款无损厚度测量仪器，可以精确的测量电镀铜、非电镀铜及细线上的铜厚。仪器配置一个带有自动温度补偿功能的可替换式探针，以便可以在任何温度下进行精确测量。 电源 CMI165依靠两节AA电池供电。但显示屏电池显示符号显示电量不足时需要更换电池。 通讯配置 CMI165可以通过一个USB接线与电脑相连。如果要上传数据到电脑中，需要进行通讯连接安装。通讯配置包包括一根USB线，USB驱动光盘，通讯软件及安装说明。 仪器环境 CMI165是一款可使用在恶劣环境下的手持式测厚仪器。 仪器安装 包装 小心打开纸盒，拿出所有配件。如果发现仪器有破损，请及时联系牛津仪器或承运商 电源开启 仪器探针接触铜箔表面或按任意键开启仪器电源 测量 仪器探针接触铜箔表面，测量数据将显示。按左键返回菜单。 按键介绍 所有操作，如设置/显示/背光/确定或取消都是从菜单开始，从图1中可以看到每个菜单结构。 开启 按任意键或把仪器探针接触铜表面 关闭 按住中间按键 背光开关 按住左键或从“设置/显示/背光/开或关”中选择 选择菜单 按上下键滚动菜单，按中间键或右键选择菜单 图一 返回 按左键返回前一菜单 单位更改 从“设置/测量/参数/单位/mil,um,oz”菜单下进行选择 更改记忆位置 选择“记忆/位置”，通过按上下键进行数据增减输入数据（0～99），按右/左键进入下一/前一数据，按右边位置右键进入。 修改铜类型 从“设置/测量/参数/铜类型/Cu（电镀铜）或ECu（非电镀铜）”目录下进行选择。 查看统计 从“统计/查看”中进行选择。按上下键翻动菜单，按左键返回上一菜单。 清除统计 从“统计/清除/清除统计”中选择 从统计表中清除最后一个读数 测量之后按住下键 从菜单中显示最后一个读数 从主菜单中选择测量 上传数据或统计量到电脑 选择“统计/输出/统计，数据，图表或所有”，或选择“统计/上传数据”。上传数据是需要连接通讯软件。 菜单介绍 如上图一的菜单结构 主菜单 测量、统计、记忆位置、设置、校准、清除校准、关于仪器 测量 进入测量屏 显示最后一个测量数据 记忆位置显示于屏幕左上角 铜类型（电镀铜或化学铜）显示于屏幕左下角 单位显示于屏幕右下角 统计 查看、输出、清除及上传数据。所有显示读数都在当前的记忆位置里面。 查看 显示如下栏目： 数量：数据总个数 最高值：数据的最大值 最低值：数据的最小值 范围：最大值和最小值之间的差距 平均值：所有数据的平均值 标准方差：标准方差 标准方差百分比：标准方差百分比 精度：精确度 CPK：一个基于极限值的统计量，必须这只极限值才能显示。 输出 输出以下栏目到电脑中： 统计量：数据个数、最高值、最低值、范围、平均值、标准方差、标准方差百分比、精度、CPK。 数据：读数，如果时间表设定为开（参见“设置/测量/参数/时间表”），数据及时间会同时显示 图表：统计图 所有：统计量、读数、图表 清除 取消：返回统计菜单 清除统计：清除当前记忆位置中所有统计量及读数，该记忆位置仍然激活并可以保存读数。 上传数据：把所有读数及文档传送到电脑中。 记忆位置 位置、清除、清除所有、用户输出 位置 允许用户通过按上/下键使得读数增加/减少输入1～99或进入相应记忆位置按左/右键进入前一/后一数据位置。当选择想要的记忆位置，按右键进入。 清除 取消：返回记忆位置菜单 清除：清除当前记忆位置所有统计量和读数，并使得该记忆位置无效。无效意思为该记忆位置无空间进行读数存储。如果重新进入该记忆位置，该位置将被重新激活。 清除所有 取消：返回记忆位置菜单 清除所有：清除所有记忆位置并使所有记忆位置无效，并重新激活1号记忆位置。一个激活的记忆位置代表该位置可以存储数据 用户输出 把所有激活的记忆位置传输到电脑。 设置 测量、通讯、显示、探针、时间日期、 测量 这里提及的为进入的当前记忆位置