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胶体与界面化学电子教案—第六章 第六章 纳米化学简介 6.1 纳米材料简介 纳米材料 纳米材料的发展状况 纳米材料的发展状况 发展纳米材料的意义 纳米材料的分类 纳米材料的分类 原子簇（cluster) 人造原子（Artificial atom） 人造原子（Artificial atom） 纳米微粒 纳米颗粒 晶粒和晶界 一次和二次颗粒 纳米器件 纳米粒子的分散、团聚与吸附 6.2 纳米材料的性质和用途 纳米效应 纳米效应 纳米效应 纳米效应 纳米效应 纳米效应 纳米效应 纳米效应 纳米效应 纳米效应 纳米材料的基本物理和化学性质 纳米材料的基本物理和化学性质 纳米材料的基本物理和化学性质 纳米材料的基本物理和化学性质 纳米材料的基本物理和化学性质 纳米材料的基本物理和化学性质 纳米材料的基本物理和化学性质 纳米材料的基本物理和化学性质 纳米材料的基本物理和化学性质 纳米材料的基本物理和化学性质 纳米材料的基本物理和化学性质 TiO2的光催化机理 TiO2的光催化机理 TiO2的光催化机理 TiO2的光催化机理 6.3 纳米材料的制备 物理法 物理法 化学法 化学法 化学法 化学法 化学法 化学法 化学法 化学法 化学法 纳米器件的制备 纳米器件的制备 纳米器件的制备 纳米器件的制备 纳米器件的制备 纳米器件的制备 6.4 纳米材料的检测 纳米材料的表征 化学成份的表征 化学组成的表征方法可分为化学方法和仪器分析法。相比之下,仪器分析有独特的优越性,如采用等离子体光谱仪(ICPS)、原子发射光谱(AES)、原子吸收光谱 (AAS) 对粉体的化学成分进行定性及定量分析。此外,还可应用X射线荧光 (XRFS)和电子探针微区分析法(可对粉的整体及微区的化学成分进行测试),而且与扫描电镜 (SEM)配合得到微区相对应的形态图象及成分分析图象;采用X光电子能谱 (XPS)分析粉体的化学组成和结构，原子价态等与化学键有关的性质。 晶态表征 粒径大小的表征 X－射线衍射法 X－射线衍射法 X－射线衍射法 扫描电镜 透射电镜 透射电镜 透射电镜法 扫描隧道显微镜 扫描隧道显微镜 扫描隧道显微镜 扫描隧道显微镜 扫描隧道显微镜 原子力显微镜 原子力显微镜 原子力显微镜法 电子显微镜 6. 电子显微镜 可用于观测小于100nm颗粒，可观察形状、大小、厚度，最直观、准确。 电子显微镜：最高25～30万倍，可观察到零点几个 纳米的图象。 最新发展：可观察原子图象 电镜局限：高真空，不能原位观察，制样过程中会 失真。 近场光学显微镜 7. 近场光学显微镜 普通光学显微镜：被检测样品与探测器间的距离远 大于波长，属远场范围，其分辨率仅为所使用 的光波长的一半。 近场光学显微镜：光探针与样品的间距及探针上的 光阑孔径均远小于波长，其分辨率不受衍射极 限的限制。 近场光学显微镜 比表面法 各测试方法间比较 1.化学成分的表征 3.粒径大小； 2.晶型 X射线衍射分析 (XRD)是目前应用最广，最为成熟的关于粉体晶态面貌的测试方法。除此之外，电子衍射(ED)法能够用于纳米粉体的物相，纳米粉体中个别颗粒，甚至纳米颗粒中某一微区的结构分析;高分辨率电子显微分析 (HREM )、扫描隧道显微镜 (STM )可用于分析纳米粉体的空间结构和表面微观结构。 表征粒径大小的方法： 1. 高分辨率扫描电镜; 2. AFM原子力电子显微镜 3. TEM透射电镜; 4. XRD：X射线衍射； 5. 高速离心沉降机; 6. 比表面。 XRD-X射线衍射法测量单晶大小依据的是谢乐公 式（Scheerer) 式中：D为粒径，K为常数；?为用弧度表示的峰半高 宽，?为X射线波长；?为对应衍射角的一半 。 1. X－射线衍射 氧化钛XRD图谱 ZnO的XRD图谱 SEM只能表征聚集体（二次粒子）的大小。 2. 扫描电镜（SEM） 氧化钛的SEM照片 用透射电镜可观察纳米粒子平均直径、几何形状、均匀程度、团聚度或粒径的分布，是一种颗粒度观察测定的绝对方法，因而具有可靠性与直观性。 3. 透射电镜（TEM） 首先将纳米粉制成的悬浮液滴在带有碳膜的电镜铜网上，待悬浮液中的载液挥发后，放入电镜样品台，拍摄具有代表性的电镜像，然后由这些照片来测量粒径。 透射电子显微镜(TEM )是最常用，