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自动控制原理第4章 根轨迹014
第四章 根轨迹分析法
第四章 根轨迹分析法
• 第一节 根轨迹的基本概念
• 第一节 根轨迹的基本概念
• 第二节 绘制根轨迹的基本方法
• 第二节 绘制根轨迹的基本方法
•
第三节 广义根轨迹
• 第三节 广义根轨迹
• 第四节 用根轨迹法分析系统性能
• 第四节 用根轨迹法分析系统性能
• 小结
• 小结
1
闭环控制系统的动态性能
闭环控制系统的动态性能
S
S
闭环极点在 平面上的分布位置
SS
S
S
闭环极点在 平面上的分布位置
SS
一个或几个参量变化
一个或几个参量变化
系统的极点和系统性能的影响
系统的极点和系统性能的影响
三阶以上的系统
三阶以上的系统 求特征方程式的根困难
求特征方程式的根困难
1948 , W.R.
1948年, W.R.伊文思首先提出了求解系统特征方程
,, WW..RR..
1948 , W.R.
1948年, W.R.伊文思首先提出了求解系统特征方程
,, WW..RR..
式的根的图解方法（在复平面上由开环零极点确定闭环
式的根的图解方法（在复平面上由开环零极点确定闭环
极点）根轨迹法。
极点）根轨迹法。
利用根轨迹法，可以：
利用根轨迹法，可以：
� 分析系统的性能
� 分析系统的性能
� 确定系统的结构和参数
� 确定系统的结构和参数
� 校正装置的综合
� 校正装置的综合
2
根轨迹的基本概念
根轨迹的基本概念
G (s) 0 S
的某个参数
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