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数字像面全息双曝光法测量物体位移的研究
第32卷第1期 长春理工大学学报(自然科学版) Vol.32 No. 1
2009年3月 Journal of Changchun University of Science and Technology (Natural Science Edition) Mar. 2009
数字像面全息双曝光法测量物体位移的研究
杨坤,刘喆,王文生
(长春理工大学 光电工程学院,长春 130022 )
摘 要:采用数字像面全息图与双曝光干涉法相结合测量物体位移,有效地增强了物光强度,提高了干涉图像的对
比度,得到了清晰的干涉图像;并将面阵CCD 与电寻址液晶EALCD 相结合用于全息再现,成功地避免了传统的
全息记录材料显影、定影、全息图复位过程以及材料非线性记录等缺点,取得了较好的实验效果。
关键词:像面全息;双曝光法;物体位移;EALCD
中图分类号:TN26 文献标识码:A 文章编号:1672 -9870 (2009 )0 1 -0025 -03
Study on Obj ect Displacement Measure Using Double-
exposure Digital Image Hologram Method
YANG Kun ,LIU Zhe ,WANG Wensheng
(School of Opto-Electronic Engineering ,Changchun University of Science and Technology ,Changchun 130022)
Abstract :Digital image hologram with double-exposure method is used to measure displacement of an obj ect in this pa-
per ,the intensity of obj ect light has been increased effectively ,the contrast of interference fringes has been improved ,
clear interference fringes has been gotten. CCD and EALCD are applied in order to reconstruct the digital hologram ,so the
developing ,fixing and relocation of traditional hologram recording material are avoided successfully ,and so the draw-
back of nonlinear recording. Better experimental result has been achieved.
Key words:image plane hologram ;double -exposure method ;obj ect displacement ;EALCD
[1]
数字全息 是一种全新的全息图记录与再现方 布为 0 ,0 。CCD 所在的平面为 ,两平面之间
式。数字全息不仅继承了传统全息的特点,而且还 的距离为 。用平行光照明物体,当
[2 ] 3 1 2 2 2
具有其自身的优点 :没有化学湿处理过程,可以 0 + 0 max (1)
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