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基于半导体终端设备三极管性能测试
》
苏州工业园区职业技术学院
毕业设计
2011届
毕业论文任务书
系部: 电子工程系
项目类别:毕业论文 项目题目:基于半导体终端设备的三极管性能测试 指导教师: 职称:讲师 类别:专职 学 生: 专业:应用电子 班级 1、毕业论文任务及目标
任务:
基于半导体终端设备及相关软件对三极管进行性能指标的检测,确定材料属于良品还是不良品。
目标:
完成设备的简介,三极管的性能检测,图片解析;
提交一份2000字的论文报告。
2、毕业论文的主要内容
1)介绍终端设备和软件的基础原理及应用;
2)利用Spektra测试软件完成三极管的性能测试;
3) 示例相关测试图片信息,更有力于进行直观分析;
4)写出相应的使用说明和使用效果与改进和改进意见。
3、主要参考文献(若不需要参考文献,可注明,但不要空白)
【1】 《QuickMark应用》,北京航空航天大学出版社
【2】 《Spektra20入门学》.北京邮电大学出版社
【3】 《Seminar MR-1300结构学及基础应用》.黑龙江科学技术出版社 4、进度安排 项目各阶段任务 起止日期(2010~2011年) 1.资料收集、阅读文献和资料 2010-11-03 2.论文方案设计、模块规划 2010-11-20 3.终端设备介绍,软件原解析 2011-01-15 4.相关图片截取及介绍 2011-02-27 5.撰写课毕业论文 2011-03-03
目录
摘要 4
前言 5
一、设计目的 5
二、SPKR20-TT/A TESTER基础及终端操作 6
1、测试项目分析 7
1.1 POWER TR TEST ITEM的含义: 7
1.2 三极管的几种状态: 7
2、SPEKTRA20-T T/A 的基本组成及配置 7
2.1 主体的前面内部结构 7
2.2 主体的后面板接线 8
2.3 TESTER内部B/D的作用 10
三、TESTER 测试原理及连接方法 11
1、TESER的测试原理 11
2、TESTER与计算机和H/D的连接 12
四、ESTER的启动与关闭步骤 12
1、TESTER的启动 12
五、OPERATION 终端屏幕菜单操作 13
1.系统的启动 13
2.STATION的程序JOIN(连接) 14
3.DATDLOG 的设置方法 16
4. EDITOR的使用 19
六、参考文献 22
结 束 语 23
致 谢 23
摘要
此论文是针对半导体产品,如:POWER管,MOS管等产品材料通过相关测试软件对材料进行系列的项目性能的测试。
本文以POWER材料作为模型,对产品进行各项性能的测试,具体分析每项性能的原理,文中详细的介绍了,测试软件的使用方法和原理,结合原理和图片的方式,简洁直观,一目了然,直接可以得出想要的效果和最后的测试结果。根据测试的性能数据结果,可以直接对产品材料的优良进行评测,对以后的产品质量把关有莫大的帮助和作用。
前言
中文名称:半导体
英文名称:Semiconductor
定义:材料的电阻率界于金属与绝缘材料之间的材料。这种材料在某个温度范围内随温度升高而增加电荷载流子的浓度,电阻率下降。半导体的分类,按照其制造技术可以分为:器件,分立器件、光电半导体、逻辑IC、模拟IC、储存器等大类,一般来说这些还会被分成小类。此外还有以应用领域、设计方法等进行分类,虽然不常用,但还是按照IC、LSI、VLSI(超大LSI)及其规模进行分类的方法。此外,还有按照其所处理的,可以分成模拟、、模拟数字混成及功能进行分类的方法。
-TT/A TESTER基础及终端操作
SPKR20-TT/A TESTER是半导体行业最新的测试系统,能够提供高快的速度和精确的测试,此测试系统适合于晶片探索、最终生产、数量控制和收入以及测试环境检验,它的最大工作电压是1500V,最大工作电流是30A。
TESTER SPEKTRA 20
1、测试项目分析
1.1 POWER TR TEST ITEM的含义:
1)ICES:B和E短接,C与E之间的泄露电流;
2)ICBO:E开路,CB两极之间的泄漏电流;
3)ICEO:B开路,CE两极之间的泄漏电流;
4)IEBO:C开路,BE两极之间的泄漏电流;
5)BVCES:B
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