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晶振不起振失效分析 晶振不起振失效原因分析 （作者：美信检测 失效分析实验室） 背景介绍 该型号晶振失效发生在客户端，失效形式主要表现为显示异常，使用周期一般为（6~12）个月，失效比例约为万分之六。据客户反馈，晶振的存储和使用环境按照一般行业标准来执行，其中湿度为（30~70）%RH；组装方式为典型的SMT贴片组装。 外观检查 考虑到损伤可能隐藏在外表之下，取一颗失效样品对其表面进行简单研磨，发现晶振表面存在局部破损，见图4。破损的存在，说明失效晶振的密封性可能存在问题，后续需要对其结构完整性及密封性进行检验和测试。 样品MX150817015-01研磨后的典型外观 通电测试 利用晶体参数测试仪对晶振相关参数进行测试，测试条件如下： Reference Fr: 16.0MHz; Reference CL: 5 pF; Power Applied: 100 μW. 测试结果显示：其中一颗失效晶振（3#）是正常的，其余???效晶振均表现为谐振阻抗偏大，其中1#和2#非常明显；4#样品谐振阻抗处于临界值。失效现象与客户内部测试结果相一致。 表1. 失效/正常晶振电参数测试结果 1108, Ramp;D Buildings, Founder Science Park, Songbai Road, Shiyan Town, Bao#39;an District, Shenzhen,518108,P.R.China Meixin Testing Technology Co., Ltd.︱Tel: 400-850-4050︱Fax:86-755-2782 1672︱E-mail:sales@ 深圳市美信检测技术股份有限公司︱深圳市宝安区石岩街道松白公路北侧方正科技园研发楼1108︱ 密封性测试 取失效样品（1#、2#、4#）进行密封试验，试验参考标准为GJB548-2005方法1014.2，试验条件A1、C1。 测试结果3颗失效样品密封性均不合格，详细检测结果见表2。 剖面分析 失效晶振：密封区域晶体存在微裂纹，电极层呈断续状态；密封腔区电极层出现分层现象。对电极层成分进行测试，电极层存在少量氧（O）元素，除此之外未发现明显异常。 正常晶振：密封区域晶体存在微区残缺，电极层连续，厚度均匀。对电极层成分进行测试，电极层未检测到氧（O）元素。除此之外，晶振密封区域左右两端尺寸差异巨大，且密封区域胶层不完整，个别区域存在孔洞，说明产品质量存在隐患。 1108, Ramp;D Buildings, Founder Science Park, Songbai Road, Shiyan Town, Bao#39;an District, Shenzhen,518108,P.R.China Meixin Testing Technology Co., Ltd.︱Tel: 400-850-4050︱Fax:86-755-2782 1672︱E-mail:sales@ 深圳市美信检测技术股份有限公司︱深圳市宝安区石岩街道松白公路北侧方正科技园研发楼1108︱ 失效晶振内部结构图 样品MX150817015-01密封区剖面形貌 1108, Ramp;D Buildings, Founder Science Park, Songbai Road, Shiyan Town, Bao#39;an District, Shenzhen,518108,P.R.China Meixin Testing Technology Co., Ltd.︱Tel: 400-850-4050︱Fax:86-755-2782 1672︱E-mail:sales@ 深圳市美信检测技术股份有限公司︱深圳市宝安区石岩街道松白公路北侧方正科技园研发楼1108︱ 样品MX150817015-01密封腔区电极区剖面形貌 A B C D 样品MX150817015-01电极成分分析位置示意图 1108, Ramp;D Buildings, Founder Science Park, Songbai Road, Shiyan Town, Bao#39;an District, Shenzhen,518108,P.R.China Meixin Testing Technology Co., Ltd.︱Tel: 400-850-4050︱Fax:86-755-2782 1672︱E-mail:sales@ 深圳市美信检测技术股份有限公司︱深圳市宝安区石