硅微条探测器的测试.pptVIP

多通道前端读出电子学的研制 电子学主要完成以下测试 基线及基线噪声 线性刻度：外部信号源和前端电子学自身的DAC刻度源 测试结果 * 基线噪声(连接两个硅片)：common noise扣除前后7 ADC-2 ADC 多通道前端读出电子学的研制 电子学线性刻度 大部分通道能够保持很好的线性 每个芯片的Channel NO.64发现线性很差 封装完探测器后，发现部分通道电子学线性刻度增益变差，可能是芯片封装是输入端没处理好，受污染变脏导致和其他地方阻抗变低，使得相关通道工作不正常。 * 硅微条探测器的测试 硅微条探测器测试方法 放射源，如β源，能量沉积宽，但无空间分辨和能量分辨； 宇宙线Moun测试 加速器束流测试，比较不容易获得 激光测试，空间分辨高，可以快速检查微条的情况 测试结果 目前主要使用β源（如锶90）和宇宙线两种方式； * 硅微条探测器的测试 宇宙线测试利用塑闪做触发； 每隔1个小时测量一次基线； 数据处理包括： 扣除基线； 扣除common noise VA equalization等 Cluster的寻找和沉积总能量的计算 * 硅微条探测器的测试 宇宙线测试结果（简单地统计所有方向入射的事例） 1MIP=50ADC道，1道约为2.4kev (670 eh pair) * 1、紫台空间探测的发展计划 2、硅微条探测器的应用需求 3、大面积硅微条探测器的研制 4、将来