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POSS基低介电多孔资料的制备及表征

摘要 摘 要 为适应窄线宽制程要求,多孔低介电材料是近年来介电功能领域的研究热 点。本文使用具有功能取代基的笼形倍半硅氧烷作为分子模板剂,研究孔洞大 小均匀分布的低介电常数多孔薄膜的制备。并通过表面活性剂结构调控孔洞的 大小。对材料制各工艺及表面活性剂结构对材料性能影响进行了研究。主要工 作大致有以下几个方面: l、综述了国内外低介电材料的研究进展,详细探讨了模板法制各多孔硅材料的 机理及应用i.并针对目前低介电多孔薄膜的制备和性质方面存在的不足提出 了相应的解决办法。 2、合成了带有八个甲基取代的笼形倍半硅氧烷,并得到了其单晶结构,并通过 FTIR、29Si NMR、单晶X射线衍射等现代仪器设备对其结构进行了表征。 详细讨论了反应温度、PH值、加入水量和反应时间对产率的影响,得出了 反应的最佳条件,同时对其合成机理进行了探讨。 3、利用y一(甲基丙稀酰氧)丙基三甲氧基硅烷水解缩和得到的POSs溶胶作为模 板剂制备得到了低介电薄膜材料,讨论了旋膜转速对薄膜厚度的影响。通过 原子力显微镜、比表面分析仪、椭偏仪等对薄膜的性质进行了表征,制备出 的薄膜介电常数可以低达膏=2.7。 4、通过表面活性剂控制孔洞的大小,并使用小角x射线衍射、比表面分析仪、 椭偏仪对薄膜的性质迸行了表征。详细讨论了表面活往莉的种类和浓度对薄 膜孔径大小分布和介电常数的影响。制备出的薄膜比表面高达1217.2莳/g, 孔体积O.75cm3/g,并且具有较低介电常数忙1.7。 关键词:笼形倍半硅氧烷,低介电,模板合成,纳米多孔硅薄膜 !Q!!兰堡垒皇兰垫塑垫塑型堡丝墨!!:———— Abstract has1edto for lincdimensions InthemicroelectronicsindustⅨdem肌dlo而ng this wi廿1 e丘onsto materiaIs.In extensive exploreporous usedasm01ecular of functionalsubstituteswere organic tempIate.Theprepa姐tion efl’ectof filmswitll sizedistributionwasdiscribed.The lowdielectric narrow口ore ofsu正比tantonthe剐m’s wasstudjed. andstructure pmperty preparation岛ch越cs consistof也e Themaincontentsofthis foIlowingpoints: paper 1. Theresearch ofjowdieIectric mechanism0f progress materi“s, template

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