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材料研究方法 2008-06 复习题 考试要点 往年考题 * XRD和EDXRF X射线的波长范围大致为多少？X射线产生的基本原理及X射线管的基本结构。 X射线谱的基本类型及其特点。 描述X射线与物质的相互作用（X射线与物质相互作用产生的物理效应或物理信号） X射线衍射的几何条件(布拉格方程或定律) X射线分析的方法主要有哪些？各自的特点是什么？（注意?与?的变化情况） * 1. 复习题 X射线衍射物相分析的基本原理。 说明X射线衍射仪法定性分析物相组成的基本过程。 何为X射线和荧光X射线？ X射线荧光光谱分析的基本原理及主要用途。 X射线分析的主要用途。 XRD和EDXRF * 电子与固体物质相互作用可以产生哪些物理信号，各有什么特点？ 电子显微镜的原理及主要类型 TEM的原理与方法 TEM样品的制备与要求 图像衬度的概念， TEM的主要图像衬度 TEM的特点及主要用途 TEM * 扫描电镜的基本原理。 扫描电镜的结构和特点（与TEM进行对比）。 扫描电镜图像衬度的产生原因、类型及主要特点。 扫描电镜的在材料研究中的主要用途。 SEM * MS 质谱分析的基本原理。 质谱仪的种类。 质谱仪的组成及组成部分的作用。 质谱图上出现的主要离子类型。 有机质谱的主要用途。 质谱仪中离子源的作用及常用的离子源种类。 * 质谱仪中质量分析器的主要类型； 无机质谱的常见类型及主要用途； 有机质谱与无机质谱有何异同； MS * 光电子能谱 电子能谱主要有哪些类型？ 电子能谱分析的基本原理及分析对象。 XPS的特点 XPS定性分析的一般步骤 光电效应及产生的物理信号 XPS和AES主要异同点 * X射线：是一种电磁波，波长为0.01-10nm，具有波粒二象性。X射线谱有连续X射线和特征X射线。 X射线的产生：任何高速运动的电子突然减速，一般由X射线机、同步辐射源等产生。X射线机包括热阴极、阳极（靶）和窗口等，处于高真空状态。 X射线与物质的作用：散射、吸收和透过 X射线衍射的条件——布拉格方程 X射线衍射的方法 单晶：劳埃法（ ?变，?不变）和转晶法（?不变，?部分变化） 粉晶：照相法（ ?不变，?变化）和衍射仪法（?不变，?变化） * 考试要点 X射线衍射的应用——物相分析 原理 过程或步骤 索引 字母索引 哈氏索引 芬克索引 * 电子显微分析：是利用聚焦电子束与试样物质相互作用产生的各种物理信号分析试样的微区形貌、晶体结构和化学组成，主要有透射电镜TEM、扫描电镜SEM、电子探针EPMA等。 电子与物质相互作用产生的物理信号：二次电子、背散射电子、透射电子、吸收电子、特征X射线、阴极荧光、束感生效应等。 透射电镜的工作原理与过程：电子枪?电子束?样品?物理信号?物镜、中间镜、投影镜?荧光屏 透射电镜的结构：光学成像系统(照明部分、成像放大、图像观察记录、样品台)、真空系统和辅助系统（电气系统） * 透射电镜的制样要求及样品类型，SEM在制样方面有何不同 电子显微分析技术的主要用途 放大图像—微形貌和显微结构，组成与成分，电子衍射—晶体结构与缺陷等 透射电镜与扫描电镜的异同点 图像衬度及其类型 * SEM是利用微细电子束在样品表面上扫描成像，主要成像信号为二次电子、背散射电子和吸收电子等。 特点：大样品制样简单；景深大；放大倍数大，具有一定的分别率等。 结构：由电子光学系统（镜筒）、偏转系统（扫描系统）、信号探测放大系统、图象显示记录系统、真空系统和电源系统等。 * 性能指标：15-20万倍；分别率；景深大，立体感强。 图像及其衬度 二次电子像：形貌衬度，成分和相位衬度 背散射电子像：形貌衬度和成分衬度 样品制备：简单，块状样或粉末；样品为?25mm，非导电样品需镀膜（Pt/Au/C） 应用：图像，成分 * 聚焦电子束（电子探针） 试样表面微区(1?m) 产生不同波长或不同能量的特征X射线 利用EDS或WDS分析其能量或波长（比较两者的优缺点） 根据特征X射线的能量或波长及其强度得出试样中所含元素的种类和含量 * 镜筒部分与扫描电镜基本相似，有一套X射线谱仪系统 分析区为微区，不破坏样品——可分析包裹体成分 分析元素范围：Be-U或Na-U 绝对灵敏度高，最小检测极限为0.001%-0.01% 样品应有抛光面，具有良好的导电性，否则需要镀Au、C等。 * EPMA主要分析方法及应用 点分析 线分析 面分析 主要进行微区定量和定性化学成分分析 *