晶体光学4PPT.pptVIP

第四章 正交偏光镜下的晶体光学性质;4.1 正交偏光镜装置及光学特点;中南大学地球科学与信息物理学院;;4.2 矿片的消光现象及消光位; 当非均质体矿物椭圆半径与上下偏光平行时，下偏光透过矿片后振动方向不发生变化，不能通过上偏光，因而出现消光现象。此时所处的位置叫消光位。 旋转物台360度，可出现4次消光;4.3 干涉现象;4.3 干涉现象;P;干涉结果可能是干涉增强，也可能是减弱，主要取决于两偏光K1’和K2’的位相差(Δθ)。 K1’和K2’的位相差是由两个方面决定的： （1）下偏光经矿片和上偏光的两次分解产生了1π的位相差 （2） K1和K2在经过矿片时因折射率不同，产生的位相差： R/λ×2 π。 R=d(N1-N2)，称光程差;Δθ=R/λ×2 π+ π 由该式可看出： R=2n λ/2 (半波长的偶数倍)时， Δθ=(2n+1) π 两偏光正好存在180度的位相差，干涉减弱 R=（2n+1）λ/2 (半波长的奇数倍)时， Δθ=2nπ 两偏光的相位正好相同，干涉增强;当光程差R介于半波长的奇数倍与偶数倍之间时？;4.4 干涉色及干涉色谱表;4.4 干涉色及干涉色谱表;白光干涉效果;2.干涉色级序及各级序的特征;;中南大学地球科学与信息物理学院;是表示干涉色级序、光程差、双折率与薄片厚度之间关系的图表，当知道R=d(n1-n2)中的任意两项时，可求第三项;1.补色法则 在正交偏 光镜间，两个非均质体的任意切片在45度位置重叠时，光通过两矿片后光程差的增减法则。;石膏试板：光程差550 mu，一级紫红，可使矿片干涉色增高（同名半径平行）或降低一个级序 云母试板：光程差147 mu，可使矿片干涉色增高（同名半径平行）或降低一个色序 石英楔：光程差为0-1680 mu，可使矿片干涉色连续增高（同名半径平行）或连续降低。;4.6 正交偏光镜下主要光学性质的观测;1.非均质体矿片光率体椭圆半径方向和名称测定; ;目的：在已知薄片厚度的情况下，确定双折率，鉴定矿物。;石膏试板法：大部分矿物可能过其与石膏试板的同名半径平行和异名半径平行时干涉色的变化来确定干涉色级序。如图;3.双折率的测定 在确定干涉色级序后，可结合薄片厚度用色谱表求双折率 也可以通过光程差（一个级序550mμ，一个色序147m μ ）公式R=d（n1-n2）求双折??;4.消光类型及消光角;中级晶族： 光性方位：？ 消光类型：大多数切面平行消光;斜方晶系： 光性方位：？ 消光类型：大多数切面平行消光，只有同时斜切三个主轴的切面可能出现斜消光;单斜晶系： 光性方位：？ 消光类型：不同切面有不同的消光类型;三斜晶系： 光性方位：？ 消光类型：绝大多数切面均为斜消光;消光角测定: 消光角是结晶轴或晶面与光率体椭圆半径的夹角。 主要用来鉴定单斜与三斜晶系的矿物。具体步骤如下：;例如，对于角闪石来说，图中解理缝方向为结晶轴Z轴，则消光角为： Ng’∧Z=;非均质体矿片有正、负延性之分 正延性：长条状矿物切面中矿物的延长方向与光率体长半径平行或夹角小于45度 负延性：长条状矿物切面中矿物的延长方向与光率体短半径平行或夹角小于45度 斜消光切面，测量方法与消光角的测量方法基本一致 平行消光切面，只需测定延长方向的椭圆半径名称即可;在正交偏光镜下，具双晶的矿物表现为双晶的单体不同时消光。 两单体的结合面表现为一条细线，称双晶缝 据双晶单体的数目分简单双晶和复合双晶