第五章 X射线衍射仪及物相定性分析PPT.pptVIP

I. 衍射分析常用的软件 157048 个标准卡片（截至2003） 第五章X射线衍射仪及物相定性分析 回顾－－粉末法成像原理 粉末试样是由数目极多的微小晶粒组成。这些晶粒的取向完全是任意无规则的。各晶粒中指数相同的晶面取向分布于空间的任意方向。如果采用倒易空间的概念，则这些晶面的倒易矢量分布于整个倒易空间的各个方向，而它们的倒易结点布满在以倒易矢量的长度|g*|为半径的倒易球面上。 粉末法成像原理 圆柱试样的衍射几何 5.1 引言 1、发展历史：劳埃照相、德拜照相、衍射仪 2、德拜照相的优缺点： 优点：设备简单、要求试样量少 缺点：摄照时间长、准确度不高 3、衍射仪的优缺点： 优点：测量精确、信息量大、速度快、操作简便 缺点：设备昂贵、要求试样量大 特别是近年来，X射线衍射仪向大功率和全自动化的方向迅速发展，采用计算机控制，结果数字化，衍射分析有特定的程序，这就更充分显示了X射线衍射仪方法的优越性。目前，绝大部分衍射工作都可以在X射线衍射仪上进行。 5.2 X射线衍射仪的原理与结构 X射线衍射仪基本构成 图5－1 为 布鲁克D8型多晶X射线衍射仪 X射线衍射仪由以下几个部分： 1、X射线发生器； 2、测角仪； 3、辐射探测器； 4、记录单元； 5、控制单元； 其中测角仪是仪器的中心部分。 A. X射线测角仪 在X射线衍射仪中X射线光源是固定的而让平板试样，在线光源形成的平面上转动，以改变X射线与晶面的夹角，让不同的晶面满足布拉格关系产生衍射。根据测角平面的设计方式分为两种：水平、立式（垂直） 水平测角仪 立式测角仪 B. 光路图 测角仪要求与X射线管的线状焦点联接使用，线焦点的长边方向与侧角仪的中心轴平行。X射线管的线焦点F的尺寸—般为(1.5x10)毫米 。 为控制X射线的发散度，在测角仪中采用由狭缝光栏与梭拉光阑组成的联合光阑系统，聚焦光路如图中所示。 测角仪的光学布置 平行光路衍射几何在平行光路衍射时样品表面不平－即不在中心轴平面上 C. 探测器 （1） 闪烁计数器 这种类型计数器是利用X射线激发其种物质产生可见的荧 光，这种可见荧光的多少与X射线强度成正比。 图1－21 闪烁计数器示意图 （2） 锂漂移硅检测器 锂漂移硅检测器是一种固体探测器，通常表示为Si(Li)检测器。它也和气体计数器一样，借助于电离效应来检测X射线，但这种电离效应不是发生在气体介质而是发生在固体介质之中。 当一个外来的X射线光子进入之后，它把价带中的部分电子激发到导带，于是在价带中产生一些空穴，在电场的作用下这些电子和空穴都可以形成电流，故把它们称为载流子。在温度和电压一定时，载流子的数目和入射的x射线光子能量成比例。 在半导体中产生一个电子—空穴对所需要的能量等于禁带的宽度，对硅而言，其值为1.14电子伏特。但是在激发的过程中还要有部分能量消耗于晶格振动，因此，在硅中激发一个电子—空穴对实侧的平均能量为3.8电子伏特。一般的X射线光子能量为数千电子伏特，因此，—个X射线光子可激发大量的电子—空穴对，这个过程只要几分之一微秒即可完成。所以，当一个X射线光子进入检测电路时，就产生一个电脉冲，我们可以通过这些电脉冲来检测X射线的能量和强度。 锂漂移硅检测器 D. 衍射图： 当样品探测器进行θ－2θ连动时，探测器记录下X射线的强度，并将X射线的强弱转变成电讯号，记录下每一点的平均强度，这样，衍射仪就能自动记录下来绘成衍射强度随角度变化的情况。即θ－2θ曲线， 氧化铝粉的X射线衍射分析（ θ－2θ曲线 ） E. 衍射仪工作方式 (1) 连续扫描 探测器以一定的速度在选定的角度内进行连续扫描，探测器以测量的平均强度，绘出谱线，特点是快，缺点是不准确，一般工作时，作为参考，以确定衍射仪工作的角度。 (2) 步进扫描 探测器以一定的角度间隔逐步移动，强度为积分强度，峰位较准确。 F. 峰值的确定 现代衍射仪的测量与计算均由计算机来控制,在出现峰值时，计算机根据一定的规则确定峰位，即2θ角的位置。 确定峰位的方法很多，通常使用切线法，即根据峰的陡度即切线斜率的改变值来确定峰位（峰顶处，改变较大）。当确定为峰值时，就测出其相应的2θ角然后根据布拉格公式，计算出每一个峰所对应的干涉面的d值，并打印在衍射峰上，同时给出对应的峰高度，即衍射强度。据此可进行物相分析。 5.3 定性物相分析 物相分析的任务是鉴别待测试样由哪些物相所组成，而非元素组成，它所进行的是未知物质的结构分析。 A. 基本