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- 2018-06-09 发布于浙江
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产品质量计划(手机可靠性和环境试验标准)
编号 测试系列 描述 标准 PR1数量 PR2数量 Pil数量 FPR数量 1 整机环境试验 1.1 粉尘试验 试验温度室温,滑石粉大小300目。测试时间持续3小时,灰尘浓度10.6±7g/m3、风速8.9±1.27m/s在粉尘箱中,试验过程如下:
1-如果是翻盖折叠手机,打开翻盖,将键盘面和主LCD 的一面对着试验门。直板机的操作方式参照此方法。
2-翻盖折叠机打开翻盖,电池盖的一面和副屏的一面对着试验门。 试验后的手机产品必须具有完整的功能,在手机的可视区域中没有粉尘堆积阻止手机正常的功能操作,键盘功能正常。键盘背光灯的亮度允许改变,Camera的光学拍照性能允许改变。 2 2 2 2 1.2 盐雾试验 将氯化钠用蒸馏水配制成(5±1)%水溶液(质量百分比),pH值在6.5~7.2(35±2℃)之间。设置实验空间内温度为35±2℃,在工作空间内任一位置,用面积为80cm2的漏斗收集连续雾化16h的盐雾沉降量,平均每小时收集到1.0~2.0 mL的溶液。实验持续时间为16h。 试验结束后,要求五金端子等金属件、电镀件无明显锈蚀。 2 2 2 2 2 结构寿命试验 2.1 键盘膜 8N 按键力度 , 60循环/min, 按键时间 0,2s, 300k次. 在开始测试和结束测试时均进行按键手感力度的测试 。 要求试验后按键弹性及功能正常,要求按动时无卡住现象,周围无漏光,不会误操作。 2 2 2 2 2.2 侧键 8N 按键力度,60循环/min, 按键时间0.2s,50k次。在开始测试和结束测试时均进行按键手感力度的测试。 功能完整, 按键检测正常 . 按键手感良好。最大可接受的范围是按键手感力度在按键测试后减少20% 。 (2) (2) (2) (2) 2.3 10cm高度微跌落 手机插卡开机,合翻盖待机状态下从10cm的高度自由跌落至8~12mm厚的铝板上,顺序按底面2500次→正面500次→左侧面500次→右侧面500次,跌落完毕为一个循环,共跌4个循环,每完成一个循环检查一次被测样机的外观及基本功能;跌落次数要求16000次;试验速率:15次/分 功能性能完整,装饰件和涂漆由于重复的摩擦和冲击允许有破损。 2 2 2 2 2.4 振动 (120k 循环 1s 开 / 3s 关) 功能正常,允许有轻微的频率和加速度的响应变差。 (2) (2) (2) (2) 2.5 电池 5k 插拔试验,如果该操作由机器操作较复杂,操作可以分解。 电池和手机之间没有接触故障(可视区域)。产品也不存在开关机故障。 (2) (2) (2) (2) 2.6 Sim 连接器 模拟完成正常使SIM卡的5k次插拔,如果测试动作复杂机器难以完成,动作可以分解为插入/拔出 SIM 卡的功能正常,SIM卡的厚度为0,86mm。 比正常的插拔力量减少20%是最大的允许接受范围。 (2) (2) (2) (2) 2.7 扭转(可选) 每分钟30 扭2Nm,3K 功能完整 .各部件之间的间隙允许增加(最大20%) 2 2 2 2 2.8 弯曲(可选) 3K, 100N, 每分钟30次 功能完整,各部件之间的间隙允许增加(最大20%) ) (2) (2) (2) (2) 2.9 底座/电池盖 3K次打开/合上。 功能完整。电池门缩上的力度允许降低50%,电池门在部件之间的间隙可能会增加(最大20%) (2) (2) (2) (2) 2.10 T-flash 卡插拔试验 3K次 插入/拔出 功能完整 2 2 2 2 2.11 整机抗软挤压测试 25kg,速度为10-20次/Min, 挤压3000次
手机的外观应无明显变形,lensLCD应无裂纹,开机显示无异常,整机个部件无功能性的损坏,手机使用功能正常。 (2) (2) (2) 3 整机老化功能测试 3.1 连续测试 3.2 完整的射频测试 在+25°C 完成GSM/DCS 的辐射RF 测试。 所有的RF特性符合GSM 11-10. 8 8 8 8 3.3 完整的射频测试 在+25°C GSM/DCS传导RF 测试 所有的RF特性符合GSM 11-10 (8) (8) 8) (8) 3.4 1米高度跌落 6面,1次/每面 ,混凝土地面,先做四个样本 功能完整 (8) (8) 8) (8) 3.5 热冲击 (-30°C 30分钟 + 85°C 30分钟 15秒转换时间) : 32 循环(特殊工艺IML/IMD 部品测试温度范围可调整为-20度到+65度) 功能完整 (8) (8) 8) (8) 3.6 高温高湿 70°93% 湿度 48小时(特殊工艺IML/I
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