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《数字电子技术实验》指导书 学时：20 班级：计控1202、1203 机电系电气教学团队 目 录 1、实验一 TTL集成门电路………………..…………2 2、实验二 组合逻辑电路的实验……………….……4 3、实验三 译码器及数据选择器……………….…..…6 4、实验四 译码驱动器CD4511逻辑功能测试………8 5、实验五 触发器……………………………………10 6、实验六、集成计数器及其应用……………..……..12 7、实验七、移位寄存器及其应用………………....…15 8、实验八 555时基电路的应用………….……...….17 9、实验九 计数器仿真实验…………………….….19 10、实验十 555应用电路仿真试验………………….22 实验一 TTL集成门电路 一、实验目的 1、验证常用门电路的逻辑功能 2、掌握四种常用集成门电路对信号的控制作用。 二、实验器材 1、TPE—D6Ⅲ 型数字电路实验箱 1台 2、万用表1只 3、74LS08，74LS32，74LS04，74LS00各一块 三、实验步骤 1、在数字电路实验箱中，插入74LS08集成块。 2、用万用表测量数字电路实验箱中5V电源，并接入集成块 3、按表1中所列要求设置输入信号，测出输出端Y，并将结果记录于表1 74LS08管脚图 表1 4、在数字电路实验箱中，插入74LS32集成块，重复步骤,2、3，将结果记录在表2中 74LS32管脚图 表2 5、在数字电路实验箱中，插入74LS04集成块，重复步骤,2、3，将结果记录在表3中 74LS04管脚图 表3 6、在数字电路实验箱中，插入74LS00集成块，重复步骤,2、3，将结果记录在表4中 74LS00管脚图 表4 7、请用74LS00与非门，连接或门电路，并验证逻辑功能。 五、实验报告 根据各真值表，分别写出逻辑表达式，并说出它们的功能，并认真理解四种常用集成门电路对信号的控制作用。 实验二 组合逻辑电路的实验 一、实验目的1、进一步熟悉常用集成块的使用。 2、掌握组合逻辑电路的分析方法TPE—D6Ⅲ 型数字电路实验箱 1台 2、万用表1只 3、74LS00，74LS86各一块 三、实验步骤 1、组合逻辑电路功能测试。 （1）用2片74LS00组成图1所示逻辑电路。 （2）图中A、B、C接电平开关，Y1、Y2接发光管电平显示。 （3）按表1要求，改变A、B、C的状态填表1并写出Y1，Y2逻辑表达式 图1 输入 输出 A B C Y1 Y2 0 0 0 0 0 1 0 1 0 0 1 1 1 0 0 1 0 1 1 1 0 1 1 1 表1 （4)运算结果与实验比较。 2、测试图2用异或门（74LS86）和与非门组成的半加器的逻辑功能。 根据半加器的逻辑表达式可知，半加器Y是A、B的异或，而进位Z是A、B相与，故半加器可用一个集成异或门和二个与非门组成如图3. （） 图2 输入 输出 A B Y Z 0 0 0 1 1 0 1 1 表2 四、实验报告1.整理实验数据并填表，对实验结果进行分析。2.总结组合逻辑电路的分析方法。 实验三 译码器及数据选择器 一、实验目的 掌握中规模集成译码器的使用方法； 二、实验器材 1、TPE—D6Ⅲ 型数字电路实验箱 1台 2、万用表1只 3、74LS00，74LS86各一块 三、实验步骤 1、74LS138译码器逻辑功能测试； 将译码器使能S1、S2、S3及地址端A2、A1、A0分别接至逻辑电平开关输出口，八个输出端0.......7 依次连接在逻辑电平显示器的八个输入口上，拨动逻辑电平开关，按真值表逐项测试74LS138的逻辑功能。 图1 74LS138引脚排列 2、测试数据选择器74LS151的逻辑功能 按74LS151的接线，地址端A2、A1、A0数据端D0~D7使能端S接逻辑开关，输出端Q接逻辑电平显示，按74LS151功能表逐项进行测试，记录测试结果。 图2 74LS151引脚排列