第四章 原发射 2.pptVIP

第四章 原子发射光谱法 Atomic Emission Spectrometry AES 低压交流电弧 特点： (二)电火花电源 高压火花的特点： （三）电感耦合等离子体光源 炬管与雾化系统 原理 ICP的特点 二、分光系统 （一）棱镜分光系统 照明系统 准直系统 色散系统 记录系统 棱镜是利用光两次折射原理进行色散的波长越短的光，折射率越大，当复合光通过棱镜时，不同波长的光会因折射率不同而被色散为光谱 （二）光栅摄谱仪 1.光栅的色散原理 光栅分为透射光栅和反射光栅两类。光栅光谱的产生是多狭缝干涉和单狭缝衍射联合作用的结果，多缝干涉决定谱线出现的位置，单缝衍射决定谱线的强度分布。 闪耀特性 光栅衍射的能量在不同波长处的分配是不均匀的，在一定的反射光栅中，由于在光栅衍射中没有色散的零级衍射的主极大，占去了衍射光强的大部分，因此不分光的零级光谱的能量最大。如果将光栅刻痕刻成一定的形状，使每一刻痕的小反射面与光栅平面成一定角度（闪耀角），使单缝衍射的中央主极大从原来与不分光的零级主极大重合的方向，移至由刻痕形状决定的反射光方向，结果使反射光方向的光谱变强，这种现象称为闪耀。 棱镜和光栅两种分光元件的比较 三、检测系统 原子发射光谱用的检测方法有摄谱法和光电检测法，还有一种方法称目视法，应用较少。 （一）摄谱法：用感光板接收与记录光谱的方法称为摄谱法，采用摄谱法记录光谱的原子发射光谱仪称为摄谱仪。 （二）光电检测法：光电转换器件是光电光谱仪系统的核心部分，主要是利用光电效应将不同波长的辐射能转化成光电流的信号。分为两类光电倍增管和电荷耦合器件(CCD)。 四、原子发射光谱仪的类型 按照使用的色散原件不同，分为棱镜光谱仪和光栅光谱仪，按照光谱记录与测量方法的不同，又分为摄谱仪和光电直读光谱仪，后者又分为单道扫描式、多道扫描式和全谱直读式。 1.摄谱仪 摄谱仪是用棱镜或光栅作为色散原件，用摄谱法记录光谱的原子发射光谱仪器。 2.单道扫描光谱仪 光源发出的辐射经入射狭缝投射到可转动的光栅上色散，当光栅转动至某一固定位置时只有某一特定波长的谱线能通过出射狭缝进入检测器。通过光栅的转动完成一次全谱扫描。 3、多道直读光谱仪 特点 : 4、全谱直读光谱仪 见课本58页。 第三节 光谱定性和半定量分析 标准试样光谱比较法： 将元素的纯物质与试样并列摄谱于同一感光板上，在映谱仪上以这些元素纯物质所出现的光谱线与试样中所出现的谱线进行比较，如果试样光谱中有谱线与这些元素纯物质光谱出现在同一波长位置，则说明试样中存在这些元素。 二、 光谱半定量分析 三、光谱定量分析工作条件的选择 见课本63页 四、干扰与消除方法(光谱干扰和非光谱干扰) （一）光谱干扰 其中光源中未电离的分子所产生的带状光谱是传统光源背景的主要来源，光源温度越低，未电离的分子就越多，因而背景就越强。 校正背景的基本原则是，谱线的表观强度I1+b减去背景强度Ib.常用的校正背景的方法有离峰校正法和等效浓度法。 （二）非光谱干扰 1.试样蒸发过程对谱线强度的影响。 2.试样激发过程对谱线强度的影响。 第五节 原子发射光谱的应用 原子发射光谱法在发现新元素和推动原子结构理论的建立方面曾作出过重要贡献，在各种无机材料的定性、半定量和定量分析方面也曾发挥过重要作用。 等离子体光源的出现、光电直读法逐渐普及，原子发射分析方法在材料科学、生命科学、原子能工业等领域得到了广泛应用。 主要内容 d为光谱级次，是相邻两条刻痕间的距离，即为光栅刻痕密度b的倒数，K为光谱级次 色散率 表示不同波长的光谱线色散开来的能力。 实际工作中，习惯用线色散率和倒线色散率表示： 倒线色散率指单位距离上两根谱线的波长差。 dl ?1 ?2 2.光栅光谱仪的光学特性（色散率、分辨率和闪耀特性） 线色散率表示具有单位波长差的两条谱线在焦平面上分开的距离，用下式表示： b为刻痕密度 分辨率 R=λ/Δλ＝KN 注：λ为两谱线的平均值，Δλ为它们的差值。 K — 光栅级次 N — 刻痕总数 实际分辩率：指摄谱仪的每毫米感光板上所能分辩开的谱线的条数。或在感光板上恰能分辨出来的两条谱线的距离。 分辨率（R）：根据瑞利准则分辨清楚两条相邻光谱线的能力。 ⑴ 分光原理不同，折射和衍射。 ⑵ 棱镜的波长越短，