电晶体之认识和V-I特性曲线之测量.pptVIP

實習四 電晶體之認識與V-I特性曲線之測量 4-1 PNP與NPN之判別 NPN型電晶體 PNP型電晶體 判別電晶體的類型與好壞 電晶體的外型、編號與規格 4-2 E、B、C之判別 NPN型電晶體 PNP型電晶體 4-3 β值測試 使用「 hFE測試棒」 使用「 hFE測試座」 4-4 IE、IB與IC的關係  電晶體的工作區域 電流增益α 電流增益β 電流增益γ 4-5 輸出特性曲線 電晶體的規格 判別電晶體的類型與好壞 判別電晶體的類型（NPN型或PNP型） 判別電晶體的好壞 NPN型電晶體 NPN型電晶體是由兩層較厚的N型半導體夾著一層很薄的P型半導體所組成。 PNP型電晶體 PNP型電晶體則是由兩層較厚的P型半導體夾著一層很薄的N型半導體所組成 。 電晶體的工作區域 電晶體IE、IB與IC的關係 電流增益α 是集極電流IC與射極電流IE的比值 。 電流增益β 是集極電流IC與基極電流IB的比值，又稱為hFE 。 電流增益γ 是射極電流IE與基極電流IB的比值 。 電晶體的外型 圖4-5　各類電晶體的外型 電晶體的接腳 圖4-6　各類電晶體的接腳 日本系列電晶體的編號 美國系列電晶體的編號 歐洲系列電晶體的編號 判別電晶體的類型（NPN型或PNP型） 步驟1　將三用電表撥至1×1kΩ檔 ，並作歸 零調整。 步驟2　任選電晶體的兩個接腳，將測試棒接觸此兩個 接腳，使三用電表指針大幅偏轉，此時這兩個 接腳中必有一個接腳為基極。 步驟3　將任一個測試棒移至空接的接腳，此時若三 用電表指針仍然大幅偏轉，表示電晶體B-E接 面與B-C接面皆為順向偏壓，則測試棒未移動 的那隻接腳即為基極（B），如圖4-3(a)所 示。反之，如果將測試棒移至空接的接腳時， 若三用電表指針未偏轉，則測試棒移動的那隻 接腳即為基極（B），如圖4-3(b)所示。 步驟4　若接觸基極（B）的測試棒為黑色，則此電晶 體為NPN型，如圖4-4(a所示，反之，接觸基 極（B）的測試棒為紅色，則此電晶體為PNP 型，如圖4-4(b)所示。 判別電晶體的好壞 用三用電表測量B、E接腳或B、C接腳時， 均順向導通、逆向不通（如同二極體的特 性），表示電晶體是良好的。 若順向、逆向皆導通，或順向、逆向皆不導 通，則表示電晶體是損壞的。 NPN型電晶體 步驟1　先自行假設集極（C）與射極（E）接腳後， 如圖4-7所示。將三用電表黑棒接於假設的集 極（C），紅棒接於假設的射極（E）後，以 手指當作電阻接於基極（B）與集極（C）之 間，再記錄LI的刻度值。 步驟2 再將先前假設的集極（C）與射極（E）接腳 對調後，如圖4-8所示。將三用電表黑棒接於 假設的集極（C），紅棒接於假設的射極 （E）後，以手指當作電阻接於基極（B）與集 極（C）之間，再記錄LI的刻度值。 PNP型電晶體 步驟1　先自行假設集極（C）與射極（E）接腳後， 如圖4-9所示。將三用電表黑棒接於假設的射 極（E），紅棒接於假設的集極（C）後，以 手指當作電阻接於基極（B）與集極（C）之 間，再記錄LI的刻度值。 步驟2　再將先前假設的集極（C）與射極（E）接 腳對調後，如圖4-10所示。將三用電表黑 棒接於假設的射極（E），紅棒接於假設的 集極（C）後，以手指當作電阻接於基極 （B）與集極（C）之間，再記錄LI的刻度 值。 步驟3　比較步驟1與步驟2的LI刻度值，較大 者為假設正確。 使用「 hFE測試棒」 步驟1　先判別電晶體的類型、好壞與電晶體的E、 B、C三隻接腳。