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X射线衍射分析在材料领域的应用院、系： 化工学院学 号：姓 名：时 间：X射线衍射分析原理介绍X 射线产生原理X 射线产生的基本原理是以由阴极发射并在管电压作用下向靶材( 阳极)高速运动的电子流为激发源，致靶材发射辐射，该辐射即为X射线[1]。如图1-1所示。图1-1X 射线产生原理X射线衍射分析的原理( 1) X 射线衍射的基本原理1912 年劳厄( Laue)等人根据理论预见，并用实验证实了X 射线与晶体相遇时能产生衍射现象，并证明了X射线具有电磁波的性质。当一束单色X 射线入射到晶体时，由于这些规则排列的原子间距离与入射X射线波长有相同数量级，故能相互干涉，在某些特殊方向上产生X射线衍射，衍射线在空间分布的方位和强度，与晶体结构相关。衍射线空间方位与晶体结构的关系可用布拉格( Bragg)方程表示2dsinθ= nλ式中d为晶面间距，θ为掠射角，n为反射级数，λ为X射线波长[2]。( 2) X 射线衍射的运动学理论达尔文( Darwin)理论称为X射线衍射运动学理论。该理论把衍射现象作为三维夫琅禾曼(Frannhofer)衍射问题来处理，认为晶体的每个体积元的散射与其他体积元的散射无关，而且散射线通过晶体时不会再被散射。虽然这样处理可以得出足够精确的衍射方向，也能得出衍射强度，但运动学理论的根本性假设并不完全合理。因为散射线在晶体内一定会被再次散射，除了与原射线相结合外，散射线之间也能相互结合。Darwin不久以后就认识到这点，并在他的理论中作出了多重散射修正。( 3) X 射线衍射的动力学理论埃瓦尔德(Ewald)理论称为X射线衍射的动力学理论。该理论考虑到了晶体内所有波的相互作用认为入射线与衍射线在晶体内相干地结合，而且能来回地交换能量。衍射的运动学理论是考虑了散射线之间的干涉效应，但略去了衍射的再散射效应。实际上衍射线在晶体内的传播过程，还会被再散射，这种再散射(二次散射)很弱，在晶体很小或晶体不完整时可略去不计。但当晶体是大块的、高度完整的情况下，再散射在一定方向叠加起来，就形成可观的效应。两种理论对细小的晶体粉末得到的强度公式相同，而对大块完整的晶体，则必须采用动力学理论才能得出正确的结果[2]。X射线衍射分析在材料领域的应用X射线衍射在结构分析中的应用范围非常广泛，现已渗透到物理、化学、矿物学、冶金学、地球科学和生命科学以及各种工程技术科学之内，成为一种重要的手段和分析方法，提供系统的结构信息[3]。物相分析物相分析指确定材料有哪些相组成(物相定性分析)和确定各组成相的含量(物相定量分析).定性分析可采用未知样品衍射图谱与标准图谱比较的方法.定量分析中，根据衍射强度理论，物质中某相的衍射强度Ii与其质量百分数Xi有如下关系：Ii=kiXi/Um式中ki为实验条件和待测相共同决定的常数，Um为待测样品的平均质量吸收系数，与Xi有关.X射线衍射物相定量分析有内标法、外标法、增量法、无标样法和全谱拟合法等常规分析方法。内标法和增量法等都需要在待测样品中加入参考标相并绘制工作曲线，如果样品含有的物相较多，谱线复杂，再加入参考标相时会进一步增加谱线的重叠机会，给定量分析带来困难。无标样法和全谱拟合法虽然不需要配制一系列内标标准物质和绘制标准工作曲线，但需要烦琐的数学计算，其实际应用也受到了一定限制。外标法虽然不需要在样品中加入参考标相，但需要用纯的待测相物质制作工作曲线，这也给实际操作带来一定的不便[4]。X射线粉末衍射提供的微观结构信息有衍射峰形、衍射位置和衍射强度。X射线衍射峰是由衍射峰位置(P)、衍射峰形态(Sc)、半高宽(HW)、最大衍射强度(I-max)及对称性(As)5个基本要素(参数)确定(如图2-1)。图2-1 XRD衍射花样中的5个基本要素点阵参数的测定点阵参数是物质的基本结构参数，任何一种晶体物质在一定状态下都有一定的点阵参数。测定点阵参数在研究固态相变、确定固溶体类型、测定固溶体溶解度曲线、测定热膨胀系数等方面都得到了应用。点阵参数的测定是通过X射线衍射线位置的测定而获得的，通过测定衍射花样中每一条衍射线的位置均可得出一个点阵常数值。纳米材料粒径的表征纳米材料的颗粒度与其性能密切相关。纳米材料由于颗粒细小，极易形成团粒，采用通常的粒度分析仪往往会给出错误的数据。采用X射线衍射线线宽法(谢乐法)可以测定纳米粒子的平均粒径。谢乐微晶尺度计算公式为：D=0.89λ/βHKLcosθ其中λ为X射线波长， βHKL为衍射线半高峰宽处因晶粒细化引起的宽化度，测定过程中选取多条低角度(2θ≦50度)X射线衍射线计算纳米粒子的平均粒径。结晶度的测定结晶度是影响材料性能的重要参数。在一些情况下，物质结晶相和非晶相的衍射图谱往往会重叠。结晶度的测定主要是根据结晶相的衍射图谱面积与非晶相图谱面积的比，在测定时必须