高分子材料测试技术系统介绍第五篇.pptVIP

第五章 X射线衍射 第一节 概述 第二节 X射线衍射原理 第三节 各种实验方法 第四节 X射线衍射在聚合物中的应用 5.1 概况 1895年伦琴（W.C.Roentgen）发现X(伦琴)射线。 1912年劳埃(M.Von Laue）发现了晶体的X射线衍射现象，确定了X射线的电磁波性质,其波长范围为10－2到102埃。 聚合物的X射线衍射方法中所使用X射线波长一般在0.5～2.5埃。 5.2 X射线衍射原理 一 X射线的产生 电子束能量的99%左右被阳极靶中的原子吸收掉,转化成热能→阳极需强制冷. 仅有约1%的电子束能量转变成X射线: 讨论： 1. X射线管产生X射线的效率低。 例如: 铜靶，30KV， E为0.1％； 钨靶，1000KV，E为0.8% 2. X射线管的最大功率受阳极材料的熔点、导热系数和靶面冷却手段的限制。 例如：铜靶（导热佳）和钼靶（熔点高）的功率常为铁、钴、铬靶的2倍。 二 X射线光谱 1 连续X射线谱 连续X射线谱为一系列具有连续波长的X射线，也称为“白色”X射线。 短波限λm: 根据量子理论，能量为eV的电子与物质相碰撞产生光量子时，光量子的能量≤ eV。因此，辐射必定有一频率上限υm hυm ＝ hC/ λm ＝ eV h —— 普朗克常数,6.626×10－34J.S； C —— 光速, 3×108m.s-1 X射线光谱 2 特征X射线谱 a.产生过程 电压超过激发电压→高能电子流轰击到靶面→靶材原子内层电子被激发→回跃到低能级→辐射特征X射线谱 b. 特征X射线产生机理 三 X射线衍射条件（Bragg方程） 任选两相邻面（A1与A2），其光程差 Δ=ML+LN=2dsin? 干涉一致加强的条件为Δ=n?，即 2dsin?=n? 式中：θ为布拉格角；2 θ 为衍射角；n——任意整数，称衍射级数，d为（hkl）晶面间距，即dhkl。 5.3 各种实验方法 一 照相法 1 平面底片法 2 回转晶体法 3 德拜－谢乐法 通常所说的粉末法，如不另加说明，均指此法。 二 衍射仪 1 X射线衍射仪基本组成及工作原理 2 样品制备 5.4 X射线衍射在聚合物中的应用 1 高聚物的物相分析 1）晶态和非晶态结构研究 2）识别晶体类型 结晶性聚合物在不同结晶条件下可形成不同晶型。它们所属晶系及晶胞参数不同。如聚丙烯α、β、γ、δ四种晶型，它们对聚丙烯材料的性能影响不同。 结晶类型识别办法是：将待定试样谱图与已知晶型谱图比较。看试样谱图中是否出现已知晶型的各衍射峰。（P75～76） 上图中a与b分别为α型和β型IPP衍射图。c为一注射IPP板材衍射实验图。a中在2θ＜20°一侧的三个峰其对应面间距分别为0.6252nm，0.5201nm和0.4766nm。c中在相应衍射区所找到的三个峰的面间距为0.6240nm，0.5190nm和0.4760nm，由此断定c中有α晶体。b中在15 ° ＜2θ＜20 °内有一β型晶体特征峰，其对应面 间距为0.5520nm。c中相应衍射区内可找到面间距为0.5512nm的峰与之相近，由此判定c中也有β型晶体。另外，在20 ° ＜2θ＜25 °之间，a与b两图均有衍射峰，而c中在大致相同的位置呈现一个峰，可认为是α型晶体与β型晶体在该区域产生衍射峰的叠加。综上分析可 确认，样品中既有α型晶体，也有β型晶体。 2 结晶度的测定 3 微晶尺寸的测定 4 取向度的研究 （a）含α型晶体的IPP X射线衍射图 （b）含β型晶体的IPP X射线衍射图 （c）被鉴定的IPP X射线衍射图 Ic－高聚物样品结晶部分衍射积分强度 Ia－高聚物样品非晶部分衍射积分强度 K－高聚物样品结晶和非晶部分单位重量的相对散射系数 谢乐公式： Lhkl－是垂直于hkl晶面的微晶尺寸（nm） λ－入射x射线波长(nm） θ－（入射X射线与原子平面间夹角）布拉格角 Β－纯衍射线增宽(用弧度表示) K－常数，称为晶体形状因子 * * E —— x射线产生的效率; Z —— 阳极靶材料的原子序数; V —— X射线管操作电压（电极间电压）. X射线管示意图 X光→原子中的电子→二次波源→散射（球面波）→干涉{ 加强 抵消 晶体对X射线的衍射 设一束平行的X射线（波长?）以? 角照射到晶体中晶