X射线晶体学(第九章).pptVIP

第九章 织构的测定 §9-1 概述 一、定义 多晶体材料中的各个晶粒，因为某种原因使其取向形成某种有规律的集中的现象，称为择优取向，具有择优取向的组织称为织构。 二、织构的分类 1、根据织构的形成方式分 1)气态凝聚织构 2)液态凝聚织构 3)电解沉淀织构 4)形变织构 5)再结晶织构 2、根据取向方式分 1)丝织构 在多晶材料中,某一晶向uvw与该材料的某一宏观特定方向平行或对称分布,而其它晶向不受任何限制。其中的宏观特定方向称为织构轴。 2、板织构 金属在受到较复杂的应力作用时，如在轧制过程中，金属沿轧制方向（RD）要伸长，厚度方向要减薄，而沿横向（TD）的宽度基本保持不变，因此这时晶粒的取向即受轧制方向的限制，也受轧面的限制，形成所谓板织构。 板织构均以某一个晶面（hkl）平行于某一个特殊面，称为织构面，某又晶向平行于某一特殊方向[uvw]，称为板织构的织构轴。 三、织构的表示方法 1、指数表示法 1）丝织构，用平行于织构轴的晶向指数uvw表示。如冷拔钢丝中，绝大多数晶粒的[111]方向都平行于拔丝方向，则记为111（或[111]）。 如果试样中有两种或两种以上的晶向平行于拉伸方向，称为双重织构或多重织构，表示为： u1v1w1+ u2v2w2+ u3v3w3+….. 2）板织构，同时标明各晶粒平行于轧面及轧向的晶面指数（hkl）和晶向指数[uvw]，表示为（hkl）[uvw]（或{hkl} uvw ）。 如果试样中含有多重板织构，则表示为： （h1k1l1）[u1v1w1]+ （h2k2l2）[u2v2w2]+….. 2、极图表示法 1）正极图 用试样本身的垂直于某一特定方向的面或特定面作为投影面，将试样中各个晶粒的某一（hkl）晶面投影到该投影面上。 这样得到的极射赤面 投影就叫做（hkl） 极图，或称为正极图、 直接极图。 对于丝织构，习惯上以投影基圆的竖直直径平行于拔丝方向，而投影基圆为包含拔丝方向的任一平面；对于板织构，则以投影基圆竖直直径平行于轧向方向，而投影基圆平行于轧面。 以Fe-Ni再结晶冷轧板为例，例如要将各晶粒的（100）平行于轧面，而轧向平行于竖直直径。如果要作（111）极图，就是把各晶粒的（111）极点投影到平行于（100）的投影面上。 根据角度关系，（111）的法线与[001]、[010]和[100]的夹角相等。 这样，即可得到一点。因为100有四次对称关系，则可得到另外三点。再表示出漫散性，所得图形如下图 上述极图实际上就是描述了试样中某一（hkl）晶面相对于试样中某一特定方向的取向分布情况。 极图不仅表现了该轧面的理想织构（100）[001]，同时也体现出轧板中晶粒取向的偏离理想织构的漫散程度。图中画阴影区为晶面极点分布区，阴影越密，表示极点密度越大，阴影区域越小，织构漫散程度也越小，即材料织构越集中，极图如实的反映了织构的全部情况，因此广泛的用来表示板织构。下图作出了（100）[001]织构的（100）、（110） 、（111）和无织构的试样的（100）极图。 2）反极图 反极图是描述试样中各个晶粒平行试样某一特征外观方向的晶向在晶体学空间分布的图形。也就是说它是以试样的晶体学方向作为坐标轴，而将材料的宏观外形投影在其中的一个平面上，从而表现了特征外观方向在晶体学空间的分布情况。即反极图描述的是试样中所有晶面相对于试样某一特定方向的取向分布。 对于立方晶系，由于对称性关系，通常用标准投影三角形表示。下图分别为丝织构的反极图和板织构的轧向、横向和法向的反极图。 3、取向分布函数法 这是一种用数学解析方法来描述多晶材料中晶粒取向分布关系的方法。这方面的内容可参看梁志德等著《织构材料的三维取向分析法》。 §9-2 板织构的照相法测定 对于板织构，晶粒取向由于受轧向和轧面的共同限制，必须确定出试样内部所有晶粒的取向在空间的分布情况才能确定出与轧面和轧向平行的晶面指数和晶向指数。因此，在实验中必须改变入射X射线与试样的相对取向。对实验结果的处理通常采用极射赤面投影法。 一、实验步骤 1、把试样制成0.1～0.2mm 左右直径的圆柱体。制成圆 柱体是为了消除由于在不同 角度时X射线经过的路径不 等而造成的误差。 2、把试样装在平板相机夹头上，使轧面与底片平行，轧向垂直向上。采用透射法，试样到底版的距离以保证底片上得到1～2个衍射环为宜。 3、为了分析时能确定出底片的正反面，可在装底片时切去右上角（