数控技术及应用第5章.pptVIP

数控技术及应用 主编 林其骏 副主编赵仲生 机械工业出版社 主讲教师 范超毅 江汉大学机电工程学院 2008年9月 第五章 数控机床位置传感器件 一、位置检测装置概述 1、位置检测装置的作用 ①位置检测装置用在 闭环（半闭环）系统中， 其主要作用是用来检测 执行部件的位移量； ②将检测的位移量作为反馈信号在位置控制单元与CNC装置发出的指令信号相比较，若有偏差，经放大后控制执行部件，使其向着消除偏差的方向运动，直到偏差为零。 2、数控机床对位置检测装置的要求 （1）为什么对位置检测装置要有要求？ ①由于闭环系统的控制精度在很大程度上取决于位置检测装置的精度。 ②不同精度的数控机床，对位置检测的精度要求不同。 因此，为了提高数控机床的精度，必须对位置检测装置提出要求。 （2）数控机床对位置检测装置的具体要求是： ①受温度、湿度的影响小，能长期保持精度，抗干扰能力强，可靠性高。 ②在机床执行部件移动范围内，能满足精度和速度要求。 ③使用维护方便，适应机床工作环境。 ④成本低。 4、位置检测装置的分类 ①直接测量和间接测量 直接测量——传感器所测的指标，就是所要求的测量指标，这种测量方式称为直接测量。 如：直线型传感器测量直线位移；回转型传感器测量角位移。 间接测量——传感器所测的指标，只是中间值，还需要转换才能得到所需要的测量值，这种测量称为间接测量。 如：用回转型传感器测量工作台的直线位移。 两种测量方法的精度比较 直接测量的精度取决于测量传感器本身的精度。 间接测量的精度即取决于测量传感器本身的精度，又取决于转换装置的精度。 ②增量式测量和绝对式测量 增量式测量——只能测量位移增量。即工作台每移动一个基本长度单位，测量装置便发出一个脉冲。 缺点： ●第一，一旦某处的测量值有误，其后的累加测量值均有误。因此会产生累积误差。 ●第二，断电后不能记忆绝对坐标值。必须重新启动。而启动后，需进行回参考点操作。 绝对式测量——每一个测量位置都是从同一个固定原点计算的。每一个测量点都有一个测量值相对应。该测量值是以数据形式表示的。 优点： 在绝对式测量方式下即使在断电或切断电源时，也能读出被测位移。 ③接触式测量和非接触式测量 接触式测量——测量传感器与被测物体相接触。 缺点：机床本身的变形、振动等因素对测量会产生影响。 非接触式测量——测量传感器与被测物体之间不相接触。 ④数字式测量和模拟式测量 数字式测量——测量传感器以数字形式表示被测量 优点：测量装置简单，信号抗干扰能力强，便于显示处理。 模拟式测量——是将被测量用连续的变量表示。通常用幅值变化、相位变化来表示。 5、常用的检测元件 二、光栅 1、光栅概述 光栅是一种最常见 的测量装置。 ①制作工艺 ●在一块长形玻璃上，镀上一层不透光的金属膜。 ●再涂上一层均匀的感光材料。 ●然后用照相腐蚀法制成等节距的透光和不透光相间的线纹， ●这些线纹与运动方向垂直，线纹间的距离为柵距，单位长度上的线纹数目叫做线纹密度。 ②光柵的分类 光栅可分为物理光栅和计量光柵。 物理光栅——刻线细而且很密，节距很小（200～500条/mm）。主要是利用光的衍射现象。常用于光谱分析和光波波长测定。 计量光柵——刻线较物理光栅稍粗（25、50、100、250条/ mm）。主要是利用光的透射和反射现象。由于采用了莫尔条纹原理，因而所测的位置精度相当高。莫尔条纹具有很高的分辨率（0.1μm，最高可达0.025μm），常用于数控检测。 计量光柵又分为长光栅（直线光栅）和圆光栅 长光栅（直线光栅）——用于直线位移的测量。 圆光栅——用于角位移的测量。 2、计量光栅的结构（如图所示） ①两块光栅（一长、一短）配套使用 长光栅——称为主光栅或标尺光栅。随机床运动部件而移动，要求与行程等长。 短光栅——称为指示光栅，固定在机床相应部件上。 ②两块光栅的刻线密度均匀，并且两尺相互平行放置，并保持一定的间隙（0.05mm或0.1mm） ③两光栅尺上均刻有很多条纹， 从其局部放大来看：白的b为 透光宽度，黑的a为不透光宽度。 设：τ为柵距，则：τ＝a＋b 通常：a＝b 或 a：b＝1：1 3、莫尔条纹 ⑴莫尔条纹的形成： ①将两块栅距相同（a＝b＝τ/2）标 尺光栅和指示光栅刻线面平行放置。 ②将指示光栅在其自身平面内倾斜一 个很小的角度，使其刻线与标尺光栅 的刻线产生一个很小的夹角θ（如图 所示）。 ③在光源的照射下，就形成了与光栅 刻线几乎垂直的横向明暗相间的宽条 纹，即莫尔条纹（如图所