统计过程控制教材Y1.ppt

2、建立控制图 X-R通常是将X图画在R图之上,下面接一个数据栏,X和R的值为纵坐标,按时间先后的子组为横坐标。数据值以及极差和均值点应纵向对齐。数据栏应包括每个读数的空间,同时还应包括记录读数的和、均值、极差以及日期/时间或其他识别子组的代码的空间。（P36） 3、计算每个子组的均值和极差 X=（ X1+X2+···+Xn）/n R= X最大值 - X最小值 4、选择控制图的刻度 对X图,坐标上的刻度值的最大值与最小值之差应至少为子组均值的最大值与最小值差的2倍。 对于R图刻度值应从最低值0开始到最大值之间的差值为初始阶段所遇到的最大极差的2倍。 5、将均值和极差分别画在控制图上 将各点一一对应的描在控制图上，然后将各点用直线联接起来从而得到可见的图形和趋势。如果有的点比别的点高得很多或低得很多，需确认计算及画图是否正确的，应确保所画的X和R点在纵向是对应的。 注：为了再次强调生产现场的所有控制限的控制图的应用，还没有计算控制限（由于没有足够的数据）的初期操作控制图上应清楚地注明“初始研究”字样。这样，这些标有“初始研究”的控制图，不论是用于能力的初次确定还是用于过程经过改进/改变后的研究，是仅允许用在生产现场中还没有控制限的过程控制图。 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25 .507 .504 .501 .499 .497 0.009 0.007 0.004 0.0 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25 UCL X LCL UCL R X chart R chart 6、计算控制限 极差： 上控制限： UCL=D4R 下控制限： LCL=D3R 均值 上控制限： UCL= X+A2 R 下控制限： LCL=X-A2R 常数D4，D3，A2，d2按n查表 注：子组样本容量小于7时，没有极差的下控制限。 n 2 3 4 5 6 7 8 9 10 D4 3.27 2.57 2.28 2.11 2.00 1.92 1.86 1.82 1.78 D3 * * * * * 0.08 0.14 0.18 0.22 A2 1.88 1.02 0.73 0.58 0.48 0.42 0.37 0.34 0.31 7、确定控制线 将平均极差和过程均值画成水平实线 各控制限画成水平虚线； 把线标上记号,在初始研究阶段,这些被称为试验控制限。 8、分析极差图(R图)上的数据点 8.1 超出控制限的点：出现一个或多个点超出任何一个控制限是该点处于失控状态的主要证据。因为在只存在普通原因引起变差的情况下超出控制限的点会很少，我们便假设该超出的是由于特殊原因造成的。因此，任何超出控制限的点是立即分析，找出存在特殊原因的信号。给任何超出控制限的点作标记，以便根据特殊原因实际开始的时间进行调查，采取纠正措施。 8.1.1超出极差上控制限的点通常说明存在下列情况中的一种或几种： 控制限计算错误或描点时描错； 零件间的变化性或分布的宽度已经增大（变坏），这种增大可以发生在某个时间点上，也可能是整个趋势的一部分； 测量系统变化（例如，不同的检验员或量具）； 测量系统没有适当的分辨力。 8.1.2有一点位于控制限之下（对于样本容量大于等于7的情况），说明存在下列情况的一种或几种： 控制限或描点错误； 分布的宽度变小（变好）； 测量系统已改变（包括数据编辑或变换）。 8.2控制限之内的图形或趋势： 当出现非随机的图形或趋势时，尽管所有的极差都在控制限之内，也表明出现这种图形或趋势的时期内过程失控或过程分布宽度发生变化。这种情况会给出首次警告：应纠正不利条件。相反某些图形或趋势是好的，并且应当研究以便使过程得到可能的永久性改进。比较极差和均值图的图形也可以更深刻地理解。 8.2.1链：有下列现象之一表明过程已改变或出现这种趋势： 连续7点位于平