组件EL中的池缺陷及隐裂分析报告.pptxVIP

组件EL中的电池缺陷及 隐裂分析报告;电致发光：简称EL，是通过加在两电极的电压产生电场，被电场激发的电子碰击发光中心，而引致电子解级的跃进、变化、复合导致发光的一种物理现象。;太阳电池的电致发光亮度正比于少子扩散长度，正比于电流密度。 通过ＥＬ图像的分析可以有效地发现硅片、扩散、钝化、网印及烧结各个环节可能存在的问题，对改进工艺、提高效率和稳定生产都有重要的作用，因而太阳电池电致发光测试仪被认为是太阳电池生产线的“眼睛”。 EL正偏发亮的区域表示此区域结特性正常，发暗的区域表明一种可能是这个区域的少子寿命很低，载流子无法起到传送电流的作用，另一种可能是这个区域电极和电池片之间的接触电阻很大，还有一种可能是没有形成pn结。 EL反偏发亮的区域的区域表明该区域有漏电，发暗的区域表明该区域没有漏电。 ;1 组件EL常见的电池片缺陷 2 非常见电池缺陷 3 隐裂改善措施;反杨五大臣，善穆义勇人;反杨五大臣，善穆义勇人;反杨五大臣，善穆义勇人;反杨五大臣，善穆义勇人;反杨五大臣，善穆义勇人;反杨五大臣，善穆义勇人;反杨五大臣，善穆义勇人;反杨五大臣，善穆义勇人;反杨五大臣，善穆义勇人;反杨五大臣，善穆义勇人;反杨五大臣，善穆义勇人;正常刻蚀边缘比较平滑光洁，而刻蚀过多后边缘会有明显的锯齿波纹。该现象可能有两种情况，a. 刻蚀过度，但是正表面没有反型(还是N型)，因为刻蚀导致该处薄层电阻过大，电流密度降低，EL亮度降低，产生反差；b. 刻蚀过度，正表面反型(变成P型)，该处没有p-n结，不存在电注入发光效应，在EL亮度为零，呈现黑边。 ;非常见缺陷-边缘漏电;漏浆所造成的品质影响分析及处理 1、AL浆污染 成因：2号机网版漏浆，造成台面上有残余浆料而污染到被扩散面。 品质影响分析：此失效片为Rsh档失效片，其EL测试图如图1；中间黑色区域为粘AL浆较多而导致的烧结不良， 在黑色区域周边呈雾状的为AL浆污染所致。 电性影响：以本片测试数据为例， Uoc：0.610 Isc：8.48 Rs：9.75 Rsh：0.330 FF:62.32% Ncell：13.26% ;2、3号机污染 成因：失效原因是银浆污染，造成烧穿SiNx薄膜困难，污染区域未能形成良 好欧姆接触。 品质影响分析： 3号机污染可能引起Eff失效，以及Trash失效，其EL测试图如图2；主要特征为呈黑色区域面积较大，且分布着许多白色斑点。 ;隐裂的危害 隐裂原因分析 隐裂改善措施及控制要点;反杨五大臣，善穆义勇人;1、隐裂可能会导致热斑效应，特别注意单晶电池片隐裂，单晶电池片隐裂会沿着晶界方向延伸，延伸轻则造成热斑重则造成电池片一块失效区。 注：隐裂会不会导致热斑效应与电池片栅线的分布、隐裂的方向有关系。 2、电池片的隐裂会加速电池片功率衰减。 3、电池片的隐裂会影响组件的正常使用寿命。 4、电池片的隐裂会在机械载荷下扩大，有可能会导致开路性的破损。 5、长度超过1mm的隐裂将不能承受2400PA的压力 ;1、我司隐裂现状调查 2、针对各工序的原因分析及改善对策 3、改善结果;反杨五大臣，善穆义勇人;反杨五大臣，善穆义勇人;反杨五大臣，善穆义勇人;