2011年XX公司质量部MSA简介测量系统分析.ppt

* APQP-2th ISO/TS 16949-References Manual页眉 * APQP-2th ISO/TS 16949-References Manual页眉 由于过程变差比公差大，测量系统与公差进行比较而不是同过程变差进行比较是适当的。 * APQP-2th ISO/TS 16949-References Manual页眉 这里上下限相对于计算得分不对称的原因是因为，这里每次的判断是服从一个二项分布的，而二项分布是不对称的。上下限的计算可以利用计算机来计算得到。（如minitab） * APQP-2th ISO/TS 16949-References Manual页眉 要想避免出现测量系统判断错误的情况，提高评价人的水平是一方面的，但更重要的是，案例中的制程能力太差，使得出现在模糊地带的零件数太多，造成评价人误判的几率增大。因此，提高制程能力也是组织必须要考虑改进的，如果ppk，cpk能达到1.33以上，那么出现在模糊区域的零件几乎没有，这样评价人可以很容易作出正确的判断，自然评价人也就可以接受了。就好像如果市面上流通的假币如果很多，难道我们需要每个都要成为鉴币专家么？ * APQP-2th ISO/TS 16949-References Manual页眉 * APQP-2th ISO/TS 16949-References Manual页眉 破坏型测量系统的样件