光达雷射脉冲回波分析对於定位精度助益之研究.docVIP

PAGE PAGE 9 光達雷射脈衝回波分析對於定位精度的助益之研究 王滙智 趙鍵哲 前言 光達的平面定位精度會侷限於footprint的產生，若能利用分析雷射脈衝的回波特性與強度來獲得更精準的反射位置，則若未來光達作業賦予使用者回波的資訊則可有效的增進其定位精度。目前看了兩份文獻，一份是Filin所做的BPRC雷射測距波形模擬器，其主要內容為如何以解析的方式去處理原本複雜的雷射能量公式以及其發射、接觸表面、接收等程序，得到一回波的波形，其方法比NASA的波形模擬器應用更廣且更有效率。另一篇文章是B. Jutiz所發表的次像元邊線定位演算法，主要論述是從落在邊線上的脈衝回波強度來推算邊線於footprint中更精確的位置與方位。並以簡單的邊線模擬影像來驗證其演算法能有效提升定位精度至1/10 pixel甚至1/20 pixel。 方法介紹 B. Jutiz的次像元邊線定位演算法 雷射掃瞄系統的測距原理是由雷射發射與接收的傳遞時間，藉此了解被照射到的地物到雷射掃瞄器之距離，若物件小於footprint，則部份的雷射光將會照射到其他物件而回傳不同於首次的時間值。 首次與最後一次回傳的脈衝有不同的應用，首次回傳的通常應用於可穿透的物件及頂面(如樹的遮蔽)，最後一次回傳通常應用於不可穿透的地面，如地表面，由於有多重回傳的效應，建物邊緣的感測在使用首次及最後一次的脈衝時，即會出現有擴張及侵蝕現象，對此二者所得的高程影像將會存在一差值影像，而真實建物邊緣線將落在此差值影像裡面，如下圖1。(a)為利用第一次回傳脈衝所得的高程影像，(b)為利用最後一次回傳所得的高程影像，(c)為其差值影像，(d)為差值影像(白色區=象徵邊界位置)的局部放大。 圖1 (B. Jutzi 圖1 (B. Jutzi,2005) 上圖給我們的概念是若能獲得回波的其他資訊則有機會從邊緣線像元中求得次像元的邊界位置。一般有用的資訊有：測距距離(distance)、粗糙程度(roughness)、反射係數(reflectance)，反射面的種類(number of surface responses)。文中是以單一footprint中不同的反射的強度來求得次像元的精度。作者是假設光達點分布均勻且正好位於影像中各網格的中心位置，因此可做以下的處理。 (1) 分類影像以求出邊線位置 以區域成長法從一種子像元開始成長，相鄰像元若被判定為相近，則即結成區塊並繼續成長。 再次選擇不落在上述區域中的另一種子像元並延續上述步驟。 重複到整張像元都被分類為各自的區域為止 如此可分為區域內圍與外緣，在此必須計算區域內圍的平均反射能量（或強度）。 (2) 次像元邊緣搜尋 首先必須了解當雷射脈衝發散成一footprint時，其脈衝的強度可以由三維的高斯分布來描述，其中心位置的能量最強。且高斯函數具有輻射性與對稱性，因此邊緣線可以為任意方向。邊緣線則必須假設為直線，其反射光束的能量可由下式表示： 　 (1) 式中，為邊緣線到光束中心的距離，為標準誤差，為在區域裡面的平均光束能量(power) 。上式可寫成函數式如下： 　 (2) 已知邊緣像元的每ㄧ能量值，則可利用上式中的逆轉換求得距離值d，即邊緣線落在此像元內的次像元位置，如下圖2。 圖2 (B. Jutzi,2005) (3) 求取邊緣線方位 然而，以此方式求得的邊緣線是不具方向性的，無法確定邊緣線的方向，如圖3a，但可知此邊緣線必落在以一半徑為d1，圓心為光束中心的圓之正切線上，如圖3b。故利用此特性再加上鄰近像元的邊緣資訊（半徑d2），假設此兩個像元都屬於相同筆直的物件邊緣，則我們可以結合此兩個資訊進而估算出邊緣線。 圖3 (B. Jutzi,2005) 首先必須假設邊緣特徵線為直線，找出相鄰的圓半徑(d2)後，可能的特徵線會有四組，如圖3c。接著判斷兩段距離d1,d2於能量圖上(如圖2a)大於或小於50%的能量來決定邊緣線在兩圓心的同側(e2,e3)或異側(e1,e4)。並以計算d1,d2時兩者皆為負號而可知邊緣線位於如圖3.d。這部份其實可以不必如作者分兩步判斷，可直接由判斷d1,d2的正負四種組合來決定哪條為邊緣線。 (4) 邊緣線簡化 除了以上主要的演算法外，為了求解簡化與減少端點的產生，可以做邊緣線簡化的步驟，如圖4，其主要邏輯為逐一刪除位於兩端點間的所有端點到直線距離小於門檻者。直到都大於門檻為止，紅色虛線為簡化後的邊緣線。 圖4 (B. Jutzi,2005) (5) 端點估計 此演算法必須於直線上使用，因此端點位置不列入計算，端點位置可由任兩個已產生的直線