XRF硬件设施简介.docVIP

Peltier-cooled silicon PIN diode or Silicon drift detector as X-ray detector sorce filter shutter collimator detector X-ray tube with W-anode and glass window or micro-focus X-ray tube with W-anode and beryllium window, optical Rh or Mo-anode, Maximum operating conditions: 50KV, 50W ?1mm, ?2mm, ?4mm, ?8mm (with SDD also ?11mm The hardware X射线管的工作原理： 利用高压加速灯丝发射的电子，使之轰击阳极靶材物质，就可以发射X射线。X射线管实质上是一个在高压下工作的真空二极管，包括一个发射电子的阴极和一个收集电子的阳极（或称靶），并密封在一个高真空的玻璃外壳内。发射电子的阴极可以是热发射或场致电子发射的；阳极是反射式的或透射式的；机械结构式侧窗的或端窗的。发射电子的阳极一般由螺旋状的钨丝组成，钨丝在一稳定的灯丝电流加热下，发射电子。热发射电子在阳极高压的作用下，加速并飞向阳极，与阳极材料的原子作用，并发射X射线。改变灯丝电流的大小，就可以改变灯丝的温度即电子的发射量，从而改变管电流及X射线照射量率的大小。而X射线的能量分布则取决于高压及靶材。 各种类型的X射线管能有效的激发试样中多种元素的X射线荧光。其能量谱由两部分组成：靶物质的特征X射线和轫致辐射。其中特征X射线取决于靶物质的成分，选定靶材料之后，不能改变；轫致辐射连续谱的能量上限为电子能量，于高压相当，在0到能量上限之间连续分布，照射量率最大值点约为能量上限的三分之一处。在激发试样中待测元素特征X射线时，只有能量稍大于待测元素吸收限的能量区段最有效。因为在这一能量区段光电截面最大。因而其他能量段或者不能激发，或者激发效率较低。而且，其散射射线将形成一很强的连续谱本底，干扰待测谱线的测量。为此要设立对激发源能量进行选择或转换，得到能量稍大于待测元素吸收限的单色或能量分布范围较窄的激发源。为了得到这样的激发源，有两种方式： 直接激发：由X射线管阳极发出的一次X射线，包括靶阳极特征谱线和连续谱线直接激发样品。而一次X射线滤光片位于射线管和样品之间，是用来调节管光谱，使其具有更好的单色性并部分抑制散射背景，必须根据所需要???析的元素范围来选择合适的滤光片材料。一般设置高压管压KV值两倍于样品元素最高吸收端能量。为了减少空气对低能辐射的吸收和散射，仪器可以抽真空或冲氦气。 次级靶激发：由较高功率的X射线管发出的原级X射线激发次级金属靶，次级靶产生的特征射线激发样品。次级靶一般为金属材料，例如Mo、Cd、Ag、Ti、Ge、Rh等。 X射线探测器 X射线探测器是将X射线荧光光量子转变为一定形状和数量的电脉冲，表征X射线荧光的能量和照射量率。因而它实际上是一个能量-电量的传感器。为了准确区别不同能量的X射线，探测器必须具有足够的能量分辨率。无论哪种探测器都是将X射线的能量转变为电讯号，一般是用电脉冲的数目表征入射X射线的光量子数目；电脉冲的幅度表征入射光量子的能量。 X射线探测器有以下的主要技术指标： 探测效率：从一般概念出发，所谓探测效率可以理解为被记录到的脉冲数与入射X射线光量子之比。X射线与物质作用不是连续进行的。光电效应在整个路程上只能发生一次，随即光量子消失，散射效应在整个路程上可能发生多次，但两次散射过程之间存在一定距离。因而在探测器的灵敏区内，一个X射线光量子不一定与物质作用而产生光电离。对于所有的入射光量子，其中有一部分只以散射效应在探测器中损失一部分能量；有的却以光电效应或多次散射损失全部能量，损失全部能量的量子，产生幅度表征其能量的电脉冲。 能量分辨率 死时间：当探测器接受到一个光量子并输出一个电脉冲后，对其它入射光子在一段时间内完全不灵敏。这段时间称为探测器的“死时间”。 能量线性 三种常见的X射线探测器： 正比计数器：是一个充气的电容器。在两极加上电压的情况下，入射射线若在电容器空间形成电子-离子对时，电荷将被电极收集而形成电讯号。若电容器两极之间所加电压足够高，电荷飞向电极时会获得足够的动能而使气体再次电离。这使电讯号幅度加大，但仍与初始电离相关。 闪烁计数器：闪烁计数器是根据电磁辐射能量将价电子激发到较高能级，当电子返回较低能级或基态时以可见光或紫外光光量子形式释放能量的原理工作的。闪烁计数器由闪烁体、光导、光电倍增管和附属电路四部分组成。入射射线或粒子与光闪烁体作用，使之发光，光子经光导进入光电倍增管光电阴极并产生光电子。光电