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基于PC机AD静态参数测试电路设计 　　摘 要：主要介绍一种A/D转换芯片静态参数测试电路，该测试电路的设计基于A/D静态参数测试的直方图法，同时PC机上运行的Labview测试程序控制PC机并口通过EPP协议与该测试电路通讯，获得测试数据，完成参数运算。 　　关键词：A/D转换芯片 静态参数 直方图 EPP 　　中图分类号：TN792 文献标识码：A 文章编号：1007-3973（2013）010-117-04 　　现在对A/D转换芯片（以下简称A/D）的设计、制造技术发展很快，这就对A/D测试提出越来越高的要求，本测试电路是针对A/D静态参数测试的。A/D静态参数的测试都是使用大规模集成电路测试系统，由数字信号部分和模拟信号部分构成，能准确测试A/D的静态参数，但有如下缺点： 　　（1）大规模数字集成电路测试系统十分昂贵，价格超过百万人民币。用能提供高精度、小步进的模拟信号的仪器也比较贵。 　　（2）在测试高分辨率A/D时，使用这种测试构架需要将模拟信号经较长连接线连接到被测A/D，由连接线产生的噪声将会对测试产生严重影响。 　　本项目的是设计一块专用测试电路板，由这块电路板来产生高精度、小步进的模拟信号，同时被测试A/D也放在这块电路板上进行测试。并且用一块CPLD对被测试A/D提供数字信号和时序，使之发生模数转换，并捕捉A/D产生的数字信号，然后这块CPLD通过EPP协议与PC机通讯，再由PC机对捕捉的数字信号进行算法处理，得到被测试A/D的静态参数。本测试系统设计成功后，相对于传统的测试构架，本测试系统有如下优点： 　　（1）测试系统的构成成本大大降低。 　　（2）一旦出现故障，维护费用也很低。 　　（3）在测试高分辨率A/D时，由于高精度、小步进的模拟信号和被测试A/D在同一块电路板上，模拟信号传输的途径很短，由传输途径产生的噪声将大大减小，不会对测试产生严重影响。 　　1 A/D静态参数定义 　　A/D的用途是将模拟信号转换为数字信号，图1表示了A/D的数模转换过程。 　　A/D的输出是数字信号，没有模拟信号需要测量。在对A/D进行测试时，给被测试A/D提供逐步递增的模拟信号，当A/D将逐步递增的模拟信号转换为数字信号时，对逐步递增的模拟信号持续测量，当A/D的数字信号输出发生变化时，此时的输入给A/D的模拟信号值就是转换值。 　　在所有的转换值中要指出两个特定的转换值：VZST和VFST，做如下定义： 　　VFST是使A/D数字输出信号i从次大值的值变为最大值时的输入模拟信号的值。 　　VZST是使A/D数字输出信号i从0变为1时的输入模拟信号的值。 　　这两个特定的转换值在计算分辨率（LSB）和满幅电压范围（FSR）时是很有用的。 　　从图2中可以看出一个n位的A/D有2n个输出数字信号值，有2n-1个转换值，在VZST和VFST 之间有2n-2个输出数字信号值。 　　A/D静态参数定义如下： 　　（1）满幅电压范围（FSRIDEAL、FSRDUT） 　　理想满幅电压范围（FSRIDEAL）是指被测A/D技术规范上标称的满幅电压参考值。实际满幅电压范围（FSRDUT）是让被测A/D的输出数字信号值为最大值时，根据如下公式计算出的输入模拟信号值： 　　2 静态参数直方图测试方法 　　在测试A/D的静态参数时，最常用的测试方法是直方图法。使用直方图法时，由测试系统对被测试A/D提供锯齿波作为测试波。为确保测试精度，被测A/D的理想最低有效位应大于等于测试波步进的16倍，且为整数倍数。当测试波小幅步进递增时，被测试A/D的输出数字信号值将逐步变大。当测试波达到理想满幅电压范围时，进行统计，得到每一个被测A/D的输出数字信号值对应的测试波步进的次数，经过计算就可得知被测A/D的各项静态参数。 　　3.1 测试系统概述 　　测试系统有一PC控制机和一测试电路板组成，测试控制机的并口与测试电路板上的一CPLD芯片相联。如图5。 　　在PC控制机的Labview软件平台上运行上运行测试程序test.vi，test.vi程序由Labview语言编写，在test.vi中可调用相关函数对PC控制机的并口进行操作，从并口对CPLD芯片进行控制，CPLD芯片是可编程落脚芯片，当CPLD芯片收到test.vi的控制信号后，可启动芯片内预先编好的程序对测试电路板进行控制，根据直方图测试法，先产生微小步进的模拟信号，然后使被测试A/D进行模数转换，接着对被测试A/D产生的数字量进行采样，最后通过并口与测试程序test.vi进行通讯，由test.vi捕获A/D产生的数字量。当由test.vi捕获A/D产生的起全部数字量后，对数字量进行数据处理，得到被测A/D的各项静态参数。 　　3.2测试电路的设计 　　直方图测试法中，需要一个微小步进的