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* 對每日生產的產品線中所測得的凌亂數据進行整理作圖,找出經常發生和偶然發生事故的數据以便找出問題的原因,所需要作的圖即為管制圖,其橫軸代表產品的群体號碼,製造日期,縱軸代表產品品質特性.如果點都在管制界限之內則表示在管制狀態之下,如果點有連續往上或往下或突出管制線之外,則表示必須深入調查原因 描述 一般原因(机遇原因):製程中某些微小而不可避免的原因,現象所此造成之分配與時間的關系是穩定而可重複,可預測的 特殊原因(非机遇原因):製程中不常發生但造成製程變异的原因,此現象所造成之分配與時間的關系是不穩定且無法預期的 原理 品質變异的原因 常態分配 當變异僅因一般原因(机遇原因)而引起此時所構成成的分配為常態分配,其測量的數据落在3?之內的數据為99.73%,管制圖是以3個標準差為基礎通常以平均數加減三個標準差作為管制 上下限 种類 依用途來分 解析用的管制圖 其主要目的在于調查制程是否處于穩定狀態,此管制圖一般由主管人來執行,當確定制程處于穩定狀態,且制程能力足夠時,則將此管制圖的上下限及中心線移到管制用的管制圖上,其作用在制程解析用或能力調查用或制程管制准備用 管制用的管制圖 主要目的在于維持在穩定狀態的管制圖,此管制圖一般由現場作業人員來執行的,如有點超出管制界限外,或在管制界限內分布排列成不隨机情況時應采取措施 依數据來分 計數值管制圖 計數值即將產品的品質特性事先加以指定而后將特性相同的產品個數加以點計即得計數值,例如:缺點數,不良數等 不良率管制圖(P Chart) 不良數管制圖(Pn Chart) 缺點數管制圖(C Chart) 單位缺點數管制圖(U Chart) 依數据來分 計量值管制圖 計量值是一种品質特性之數值,可用連續量計量,凡是能用尺寸,重量,硬度,化學成分等做單位加以測量所得到的值. 优點:不但可以發現制程有問題,而且還可以發現什么地方出問題是中心值產生問題還是變异量產生問題 平均值與全距管制圖(X-R Chart) 平均值與標準差管制圖(X-? Chart) 中位值與全距管制圖(X-R Chart)? 個別值管制圖(X-Chart) ? 制作 計數值管制圖 (P管制圖-百分不良率) 解析用管制圖 首先要建立解析用的P-Chart待確定制程穩定與確定管制界限后,再建立管制用的P-Chart 說明: 收集數据,至少取20組以上的數据,每一組數据樣本數很大,原則上是存在4個不良品以上為佳.各組之間樣本大小差异以不超過平均樣本之+/-50%為佳 把數据按測定時間順序排列組數,並計入管制圖的數据欄內並計算出每組的不良率 組號 第一組 第二組 樣本數 n1 n2 不良數 d1 d2 不良率 p1=d1/n1 p2=d2/n2 第K組 nk dk pk=dk/nk 令樣本平均值 n= n1+ nk k = Σni k 管制線依樣本數不同而分三種 1.個組樣本數相同 中心線(CL) =P= P1+ +PK K = ΣPi k 管制上線(UCL) =P+3 √P(1-P) n 管制下線(UCL) =P-3 √P(1-P) n 2.當個組樣本數相差的幅度不超過n的+/-20%相同 中心線(CL) =P= 管制上線(UCL) =P+3 √P(1-P) n 管制下線(LCL) =P-3 √P(1-P) n Σdi Σni 3.當個組樣本數相差的幅度大于n的+/-20% 中心線(CL) = P = Σdi 管制上線(UCL) =P+3 √P(1-P) ni 管制下線(UCL) =P-3 √P(1-P) ni Σni 在管制圖用紙上划上管制線,中心線用實線繪入,上下管制線用虛線繪入,並計上CL﹑UCL﹑LCL 在管制圖繪紙上依組號順序點繪 管制界限的檢討 1.若所有的點皆落在管制界限內,則可沿用此一管制界限作為制程管制用之管制界限 3. 如有3點以上的不良率落在管制界限外,則表示不良率非在管制狀態下,此時應找出特殊原因,修正並標準化,重新收集資料 2.若只有一個或兩個不良率的點在管制界限外,則剔除這一或兩組不良率的樣本,然后重計算新的管制界限,如剩余的點有超出新的管制界限時,代表不良率非在管制狀態下,此時應找出特殊原因並修正然后予以標準化,重新收集資料 需要重新收集數据 示例 某一面板產品成品檢查有一項目為外觀不良,經收集20天的數据,試做解析用的P管制圖解 UCL:0.076 CL:0.027 LCL:-0.022 某一面板產品成品檢查有一項目為外觀不良,經收集20天的數据,試做解析用的P管制圖解 UCL:0.147 CL:0.092