精密工作台地光栅定位测量系统设计.docVIP

HYPERLINK /images/xiaohui_big.jpg \t _blank 课 程 设 计 说 明 书设计题目：精密工作台的光栅定位测量系统设计目 录第一章．国内外现状概述………………………......3第二章．总体方案设计……………………………..7第三章．测量方法设计….………………………..10第四章．控制方法设计.…………………………..11第五章．总结……..………………………………..16第六章．参考文献……..…………………………..17第一章．国内外现状概述随着数控技术在机床制造领域的普及，现代机床在加工速度，加工精度和可靠性方面都有了巨大的进步。作为数控机床核心技术之一的光栅测量技术对保障现代机床的各项性能指标起着决定性的作用。清楚了解现代光栅测量技术的发展趋势，正确选择适合自身需求的光栅测量系统对机床设计师和机床用户有着重要的意义。 全闭环控制逐渐成为标准，由精密丝杠和编码器构成的半闭环控制系统对于机床热变形导致的加工误差无法进行补偿。在过去的十余年中，采用数学建模预测变形或通过实时测量温度变化来计算变形等尝试在技术上和经济性上都未能取得令人满意的结果。 采用全闭环控制结构的机床，机床传动部件的热变形处于位置控制环之内，误差自动得到补偿。与半闭环系统不同，全闭环系统的补偿效果几乎不随机床工况，磨损状况及加工程序的不同而发生变化，机床